[发明专利]粒子计数器标定方法及粒子计量方法

权利要求书

1.粒子计数器标定方法，其特征在于：包括：

第一标定过程：对粒子计数器的激光工作区域进行标定；

第二标定过程：将固定浓度的预知粒径的粒子气流通过标定后的所述激光工作区域，采用带有高速ADC板卡的Labview采集系统标定与所述预知粒径对应的门槛电压；

辅助标定过程：采用外设工装对粒子计数器的光电接收模组进行标定，所述外设工装包括提供均匀激光的外设激光器；其中，所述辅助标定过程与所述第一标定过程、所述第二标定过程无时序关联；所述粒子计数器的光电接收模组包括光敏元件和前置放大电路；

所述辅助标定过程中，将所述均匀激光完全覆盖照射光敏元件，测量所述前置放大电路的实际输出电压；将所述实际输出电压与所述前置放大电路的输出电压的设计理论值比对；如所述实际输出电压与所述设计理论值不一致，则根据两者之间的比例设定修正系数。

2.根据权利要求1所述的粒子计数器标定方法，其特征在于：采用万用表测量所述前置放大电路的实际输出电压。

3.根据权利要求2所述的粒子计数器标定方法，其特征在于：所述第二标定过程中，Labview采集所述前置放大电路输出的波形，统计分析每个波形的峰值，然后标记出所述预知粒径的粒子的门槛电压；至少逐次通入4种不同的预知粒径，分辨标记至少4种预知粒径对应的门槛电压。

4.根据权利要求1-3任意一项所述的粒子计数器标定方法，其特征在于：粒子计数器的光学模组包括激光器和光束整形结构；所述光束整形结构包括镜片；所述第一标定过程之前，将所述激光器的输出光束进行整形得到工作光束；所述工作光束为平顶光束；所述第一标定过程中，通过调节所述镜片的位置标定所述激光工作区域的光斑。

5.粒子计量方法，其特征在于：包括：采用权利要求1-4任意一项所述的标定方法对粒子计数器进行标定；之后，采集前置放大电路输出的电压脉冲信号，分辨粒径大小和粒径分布。

6.根据权利要求5所述的粒子计量方法，其特征在于：采用高速模数转换器采集所述电压脉冲信号；所述高速模数转换器的采集速度在10MSPS以上；所述电压脉冲信号输入专用集成电路计算得到粒径大小和分布；所述专用集成电路集成在用于计量的粒子计数器的主控板上，包括FPGA。

7.根据权利要求6所述的粒子计量方法，其特征在于：所述FPGA读取修正系数，运行分辨算法进行分辨；所述分辨算法采用所述修正系数调整粒径大小的分辨。