[发明专利]一种实现存储器访问的方法、装置以及存储器在审
申请号: | 202110572245.1 | 申请日: | 2021-05-25 |
公开(公告)号: | CN113176861A | 公开(公告)日: | 2021-07-27 |
发明(设计)人: | 张永 | 申请(专利权)人: | 北京物芯科技有限责任公司 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06 |
代理公司: | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 | 代理人: | 韩登营 |
地址: | 100086 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 实现 存储器 访问 方法 装置 以及 | ||
一种实现存储器访问的方法、装置以及存储器,所述方法,包括:在所述存储器模型中封装读写函数;对所述存储器及所述读写函数进行验证;通过所述读写函数对所述存储器的存储单元进行访问。由此,可以通过封装在存储器中的读写函数直接对存储单元进行访问,从而在对芯片进行测试时,可以直接通过读写函数从存储器中获取配置,而不需要消耗仿真时间,进而提高了仿真效率。
技术领域
本发明涉及计算机领域,特别是指一种实现存储器访问的方法、装置以及存储器。
背景技术
目前关于芯片设计中芯片内部使用的存储器的访问主要有CPU总线和硬件逻辑访问两种情况,如图1所示,CPU总线和硬件逻辑访问通过存储器的RAM(random accessmemory,随机存储器)的接口实现对存储器中存储单元的访问,从而对存储单元中的数据进行读写。
对于硬件中的芯片来说,芯片的正常工作需要一部分配置。所以,当芯片测试启动时,需要将一些配置信息存储到存储器中。而数字前端验证的每个功能验证都依赖这些配置,无论是CPU通过总线还是逻辑访问来读写配置,都需要消耗仿真时间。这样,对芯片内大量的功能点的覆盖验证中,会花费大量时间来完成访问这些配置,使得仿真效率很低。另外,在在门级网表仿真时,该问题体现更加明显。因为正常测试一个功能点可能需要1us,而配置就需要消耗30us甚至更多。在系统级仿真,要配置很多模块,这样消耗的配置时间继续增加,导致系统仿真花费更多的时间在配置上。
发明内容
有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种存储器访问方法、验证方法及相关设备,以能在对芯片进行测试时,直接访问存储器中的配置信息,提高仿真效率。
本申请的第一方面提供一种实现存储器访问的方法,包括:在所述存储器中封装读写函数;对所述存储器及所述读写函数进行验证;通过所述读写函数对所述存储器的存储单元进行访问。由此,可以通过封装在存储器中的读写函数直接对存储单元进行访问,从而在对芯片进行测试时,可以直接通过读写函数从存储器中获取配置,而不需要消耗仿真时间,进而提高了仿真效率。
作为第一方面一种可能的实现方式,所述读写函数的接口列表中包含访问所述存储单元的读写地址接口和读写数据接口。由此,可以通过读写地址接口直接指定要访问的数据所在地址,从而能够通过读写数据接口对存储器中的配置进行读写。
作为第一方面一种可能的实现方式,所述读写函数的接口列表中还包含用于连接该读写函数的访问接口。由此,芯片可以通过访问接口连接读写函数,从而能够对存储器进行访问。
本申请的第二方面提供一种实现存储器访问的装置,包括:封装模块,所述封装模块在所述存储器中封装读写函数;验证模块,所述验证模块对所述存储器及所述读写函数进行验证;访问模块,所述访问模块通过所述读写函数对所述存储器的存储单元进行访问。由此,可以通过封装在存储器中的读写函数直接对存储单元进行访问,从而在对芯片进行测试时,可以直接通过读写函数从存储器中获取配置,还可以直接通过读写函数下发配置到存储器,而不需要消耗仿真时间,进而提高了仿真效率。
作为第二方面一种可能的实现方式,所述读写函数的接口列表中包含访问所述存储单元的读写地址接口和读写数据接口。由此,可以通过读写地址接口获取存储器中配置的地址信息,通过读写数据接口对存储器中的配置进行读写。
作为第二方面一种可能的实现方式,所述读写函数的接口列表中还包含用于连接该读写函数的访问接口。由此,芯片可以通过访问接口连接读写函数,从而能够对存储器进行访问。
本申请的第三方面提供一种存储器,所述存储器中封装有第一方面任一可能实现方式中所述的读写函数。
本申请的第四方面提供一种测试方法,在所述仿真阶段通过第一方面任一可能实现方式中的读写函数访问所述存储器,以获取配置信息。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京物芯科技有限责任公司,未经北京物芯科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110572245.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。