[发明专利]一种测温片校准方法在审
| 申请号： | 202110365939.8 | 申请日： | 2021-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN113358243A | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 孙昊;曹平 | 申请（专利权）人： | 苏州莱测检测科技有限公司 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00;G01K7/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市高新*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测温 校准 方法 | ||
1.一种测温片校准方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、对测温片进行外观检查，将热电偶标识准确贴在测温片上；
S2、将测温片放入恒温箱内，使热电偶的参考端置于恒温箱外；
S3、根据标志序号通过转换开关与测量仪器连接，关闭恒温箱，通电升温，将恒温箱的控温仪表按需求校准点设定温度值；
S4、当恒温箱内温度达到标准温度后稳定一段时间开始读数。
2.根据权利要求1所述的一种测温片校准方法，其特征在于，步骤S1中，采用目视以及手动检查的方式对测温片的外观进行检查。
3.根据权利要求1所述的一种测温片校准方法，其特征在于，步骤S4中，当恒温箱内温度达到标准温度后，稳定30min后开始读数，每隔5min读取一次数据，取4次数据的平均值作为标准器和被检仪器的示值。
4.根据权利要求3所述的一种测温片校准方法，其特征在于，步骤S4之后，采用如下公式对温度修正值进行计算：
ΔT＝TB+d1-T
式中：ΔT为被检测温片的温度修正值，℃；
T为被检测温片的算术平均值，℃；
TB为标准器温度的算术平均值，℃；
d1为标准器温度的修正值，℃。
5.根据权利要求1所述的一种测温片校准方法，其特征在于，所述恒温箱所处的环境温度为15℃～25℃，所述恒温箱所处的相对湿度环境为40％～60％。
6.根据权利要求1所述的一种测温片校准方法，其特征在于，所述恒温箱外无影响正常校准的外磁场，无强烈气流直接吹到所述恒温箱。
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