[发明专利]一种散射源高度的测试方法及检测装置有效

专利信息
申请号: 202110347403.3 申请日: 2021-03-31
公开(公告)号: CN113075657B 公开(公告)日: 2023-01-13
发明(设计)人: 吕鸣;候浩浩;高超;任群庭;刘芳 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01S13/89 分类号: G01S13/89;G01S7/41;G01S7/40
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 李宁宁
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 散射 高度 测试 方法 检测 装置
【说明书】:

本申请提供了一种散射源高度的测试方法及测试装置,测试方法包括如下步骤:根据第一电磁波生成散射源回波功率的第一二维分布图像。根据第二电磁波生成散射源回波功率的第二二维分布图像。根据第一二维分布图像与第二二维分布图像得到功率差值。将功率差值与预存数据匹配,得到散射源的相对高度的三维图像信息。本申请基于幅度比鉴的思路,利用成像测试中地面多路径反射造成的照射波束幅度“锥削”效应,通过建立测试场景中散射源高度与接收回波信号强度关系的数学模型,比较不同高度天线测量下同一散射源幅度变化,能够快速、准确的得到散射中心的高度信息,实现对散射源高效定位与诊断的目的。

技术领域

本申请涉及检测技术领域,尤其涉及一种散射源高度的测试方法及测试装置。

背景技术

目前,进行RCS测试时,准确获取散射源的三维空间位置信息对于目标散射特征诊断而言具有重要的意义。而要获取目标散射源完整的三维空间位置信息,一般需要对目标进行三维微波成像。相应的,要求测试天线在两个空间维度的孔径上进行数据采集。相对于二维成像测试,三维成像测试所耗费的时间大大延长,从而限制了其在实际RCS测试中的应用。

而基于相位信息的干涉SAR/ISAR(合成孔径/逆合成孔径)技术,通过设置高度上存在微小差异的两个接收端,建立目标散射源高度与两天线接收信号相位差之模型,从而反演散射源的高度信息。相比于传统三维成像方法,上述方法效率大大提高。但基于相位信息的干涉测高方法无法直接应用于存在地面反射情况下的RCS成像测试。其原因是地面多路径反射会产生以地平面为对称面的镜像散射源,在其影响下,测量系统接收到的不同高度散射源的回波信号相位变化极小,因此难以通过相位信息反演散射源高度。

发明内容

本申请的目的是提供一种能够快速、准确的得到散射中心的高度信息,实现对散射源高效定位与诊断的测试方法及检测装置。

为了实现上述至少之一的目的,本申请第一方面的实施例提供了一种散射源高度的测试方法包括如下步骤:

建立功率差值与散射源的相对高度对应的预存数据;

调整收发天线到达第一架设高度,并通过收发天线对散射源连续发射多段频率的电磁波进行连续扫频;

收发天线接收散射源反射的第一电磁波;

根据第一电磁波生成散射源回波功率的第一二维分布图像;

调整收发天线到达第二架设高度,并通过收发天线对散射源连续发射多段频率的电磁波进行连续扫频;

收发天线接收散射源反射的第二电磁波;

根据第二电磁波生成散射源回波功率的第二二维分布图像;

根据第一二维分布图像与第二二维分布图像得到功率差值;

将功率差值与所述预存数据匹配,得到散射源的相对高度的三维图像信息。

在其中的一些实施例中,采用如下公式计算所述第一架设高度:

H1为第一架设高度,R为收发天线与散射源之间的地面距离,Ht为散射源的中心高度,f0为多段频率的电磁波的中心频率。

在其中的一些实施例中,所述第一架设高度H1与所述第二架设高度H2之间满足如下关系:

0.5H1≤H2≤2H1,且H2≠H1

在其中的一些实施例中,所述第一架设高度H1与所述第二架设高度H2之间满足如下关系:

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