[发明专利]一种主板测试设备、方法、系统及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种主板测试设备，通过自动读取测试板以及标准板中各点位的二极值的测量值，并通过处理器进行差值误差的比对自动进行点位的优良比对，通过处理器自动判别差异值的方式能够避免人员判断的漏失，从而可以从测试的若干点位中启动识别出不良点位并进行点位的异常提示，这样测试人员只需专心测量，无需抬头观测维修数据，从而降低维修人员的测量疲劳，提升测试分析效率，不漏失任何一个不良点位，从而提高主板分析维修效率以及精准度。本发明还公开了一种主板测试方法、系统及可读存储介质，具有相应的技术效果。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别是涉及一种主板测试设备、方法、系统及可读存储介质。

背景技术

服务器主板不良分析维修过程中经常会出现需要测量BGA(球栅阵列封装)焊盘上几百上千点位二极值，以找出不良点位。二极值，全程“二极体值”，又称“对地打阻值”，或“对地测数值”，是一种常用的压降测量方法，测量接地点到测试点的压降值。二极值的实现方式比较简单，可以把万用表开到二极体档，然后红色表笔接地，黑色表笔接欲测量之位置。然后看万用表上的读数即可。

而根据测量的BGA焊盘上几百上千点位二极值找出不良点位通常的做法是使用两个万用表，找一片良品，将良品和不良品的地接在一起，使其共地，再将两个万用表调至二极值档，测量两个主板上相同的点位，观察两个万用表的二极值，靠测量者来判断两个值的差异，以此来判断并找出不良点位。

以上方法需要测量者不断的低头测量、抬头观测二极值并比较万用表数值的差异，费时费力，实现效率极低；而且测量者在对主板的大量点位进行逐一测量时极易进入疲劳状态，容易错过不良点位，影响分析精准率。

综上所述，如何提高测试分析效率以及精准度，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种主板测试设备、方法、系统及可读存储介质，可以提高测试分析效率，从而协助用户更加精准便捷的找到不良点位。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种主板测试设备，包括：

数据采集器，用于获取二极值采集设备采集到的测试板中测试点的二极值，作为测试值，以及所述测试板对应的标准板中所述测试点的二极值，作为标准值；将所述测试值以及所述标准值发送至处理器；

所述处理器，用于计算所述测试值与所述标准值间的差值；判断所述差值是否属于预设误差范围；若不属于，控制提示器进行测试点异常提示；

所述提示器，用于根据所述处理器的指令进行测试点异常提示。

可选地，所述处理器为单片机。

可选地，所述提示器为蜂鸣器。

可选地，所述主板测试设备还包括：与所述处理器连接的LED显示器；

所述LED显示器用于输出所述差值，和/或，所述测试值以及所述标准值。

一种主板测试方法，包括：

获取二极值采集设备采集到的测试板中测试点的二极值，作为测试值，以及所述测试板对应的标准板中所述测试点的二极值，作为标准值；

计算所述测试值与所述标准值间的差值；

判断所述差值是否属于预设误差范围；

若不属于，进行测试点异常提示。

可选地，所述获取二极值采集设备采集到的测试板中测试点的二极值，作为测试值，以及所述测试板对应的标准板中所述测试点的二极值，作为标准值，包括：

获取二极值采集设备对测试板中测试点的首个二极值读数后预设间隔后的二极值读数，作为测试值；