[发明专利]一种主板测试设备、方法、系统及可读存储介质

权利要求书

1.一种主板测试设备，其特征在于，包括：

数据采集器，用于获取二极值采集设备采集到的测试板中测试点的二极值，作为测试值，以及所述测试板对应的标准板中所述测试点的二极值，作为标准值；将所述测试值以及所述标准值发送至处理器；

所述处理器，用于计算所述测试值与所述标准值间的差值；判断所述差值是否属于预设误差范围；若不属于，控制提示器进行测试点异常提示；

所述提示器，用于根据所述处理器的指令进行测试点异常提示。

2.根据权利要求1所述的主板测试设备，其特征在于，所述处理器为单片机。

3.根据权利要求1所述的主板测试设备，其特征在于，所述提示器为蜂鸣器。

4.根据权利要求1所述的主板测试设备，其特征在于，还包括：与所述处理器连接的LED显示器；

所述LED显示器用于输出所述差值，和/或，所述测试值以及所述标准值。

5.一种主板测试方法，其特征在于，包括：

获取二极值采集设备采集到的测试板中测试点的二极值，作为测试值，以及所述测试板对应的标准板中所述测试点的二极值，作为标准值；

计算所述测试值与所述标准值间的差值；

判断所述差值是否属于预设误差范围；

若不属于，进行测试点异常提示。

6.根据权利要求5所述的主板测试方法，其特征在于，所述获取二极值采集设备采集到的测试板中测试点的二极值，作为测试值，以及所述测试板对应的标准板中所述测试点的二极值，作为标准值，包括：

获取二极值采集设备对测试板中测试点的首个二极值读数后预设间隔后的二极值读数，作为测试值；

获取所述二极值采集设备对所述测试板对应的标准板中所述测试点的首个二极值读数后预设间隔后的二极值读数，作为标准值。

7.一种主板测试系统，其特征在于，包括：如权利要求1至4任一项所述的主板测试设备，以及测试板、标准板、二极值采集设备；

所述二极值采集设备连接于所述主板测试设备中的数据采集器，所述二极值采集设备用于采集所述测试板中测试点的二极值以及所述测试板对应的所述标准板中所述测试点的二极值；

所述主板测试设备，用于获取所述二极值采集设备采集到的所述测试板中所述测试点的二极值，作为测试值，以及所述测试板对应的所述标准板中所述测试点的二极值，作为标准值；计算所述测试值与所述标准值间的差值；判断所述差值是否属于预设误差范围；若不属于，进行测试点异常提示。

8.根据权利要求7所述的主板测试系统，其特征在于，所述二极值采集设备包括：第一二极值采集设备以及第二二极值采集设备；

其中，所述第一二极值采集设备，用于采集所述测试板中所述测试点的二极值；

所述第二二极值采集设备，用于采集所述测试板对应的标准板中所述测试点的二极值；

则所述数据采集器分别连接所述第一二极值采集设备以及所述第二二极值采集设备，用于获取所述第一二极值采集设备采集的二极值，作为所述测试值，并获取所述第二二极值采集设备采集的二极值，作为所述标准值。

9.根据权利要求7所述的主板测试系统，其特征在于，所述二极值采集设备为：万用表。

10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求5或6所述主板测试方法的步骤。