[发明专利]爆闪灯性能测试方法及电子设备

说明书

本发明一个或多个实施例公开一种爆闪灯性能测试方法及电子设备，其中，爆闪灯测试方法包括：控制处于测试环境中的摄像机对待拍摄目标进行拍摄，得到图像，其中，在所述摄像机进行拍摄的过程中控制所述摄像机在开始曝光时向处于所述测试环境中的爆闪灯发送触发信号，以触发所述爆闪灯进行补光；确定所述图像的所有像素行中被感光的像素行的个数；根据所述被感光的像素行的个数确定所述爆闪灯的持续输出时间，该测试方法简化了爆闪灯的测试过程，提高了爆闪灯性能测试的效率。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种爆闪灯性能测试方法及电子设备。

背景技术

目前，在安防、智能交通等领域，爆闪灯的应用较为广泛。目前市场上的爆闪灯的品牌和型号较多，不同品牌的爆闪灯的参数规格不一致，部分爆闪灯可能会出现参数虚标的情况，在项目上使用了参数虚标的这种爆闪灯可能会导致补光效果较差的问题，因此，将爆闪灯应用于项目之前，通常会对爆闪灯的性能指标进行测试，但，目前存在的用于对爆闪灯的性能指标进行测试的系统通常较为复杂，测试方式也较为繁复，故一种爆闪灯性能测试方法有待被提出。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种爆闪灯性能测试方法及电子设备，能够有效地测试出爆闪灯的性能指标。

本发明一个或多个实施例提供了一种爆闪灯性能测试方法，包括：控制处于测试环境中的摄像机对待拍摄目标进行拍摄，得到图像，其中，在所述摄像机进行拍摄的过程中控制所述摄像机在开始曝光时向处于所述测试环境中的爆闪灯发送触发信号，以触发所述爆闪灯进行补光；确定所述图像的所有像素行中被感光的像素行的个数；根据所述被感光的像素行的个数确定所述爆闪灯的持续输出时间。

可选的，所述方法还包括：在控制处于测试环境中的摄像机对待拍摄目标进行拍摄之前，将所述摄像机的曝光时间设置为最小值。

可选的，所述爆闪灯的持续输出时间为所述被感光的像素行的个数与所述摄像机的单位曝光时间的乘积。

可选的，确定所述图像的所有像素行中被感光的像素行的个数，包括：确定所述图像的所有像素行中，像素值大于预设值的像素行的个数。

可选的，所述测试环境为暗室。

可选的，所述待拍摄目标为白色背景。

可选的，所述方法还包括：获取所述摄像机中的图像传感器将采集到的单位光信号转换得到的电压信号的电压值，以及所述测试环境的环境光亮度；根据所述电压值、所述环境光亮度以及所述被感光的像素行的个数计算所述爆闪灯的照度。

可选的，所述方法还包括：确定所述图像中被感光的像素对应的三刺激值色彩空间的红原色刺激量、绿原色刺激量以及蓝原色刺激量；根据所述红原色刺激量、绿原色刺激量以及蓝原色刺激量计算色度坐标值；根据所述色度坐标值以及普朗克曲线计算出所述爆闪灯的色温值。

可选的，所述摄像机中的图像传感器为互补金属氧化物半导体CMOS传感器。

本发明一个或多个实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括：壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，电路板安置在壳体围成的空间内部，处理器和存储器设置在电路板上；电源电路，用于为所述电子设备的各个电路或器件供电；存储器用于存储可执行程序代码；处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行上述任意一种爆闪灯性能测试方法。

本发明一个或多个实施例提供的爆闪灯性能测试方法，利用处于测试环境中的摄像机拍摄图像，在摄像机曝光时，向爆闪灯发送触发信号，触发爆闪灯进行补光操作，使得摄像机的曝光与爆闪灯的补光同步，进而可根据拍摄得到的图像中感光的像素的行数，以及摄像机的曝光时间确定出爆闪灯的持续输出时长，该测试方法简化了爆闪灯的测试过程，提高了爆闪灯性能测试的效率。

附图说明