[实用新型]一种测量紫外光光斑大小的装置

说明书

本实用新型公开了一种测量紫外光斑大小的装置，其特征在于：包括导轨、光阑、平台支架、直流电机、遮光摆臂、45°折镜、平凸镜、光电探测器和示波器。所述光阑和平台支架依次设置于所述导轨上，并能够沿着所述导轨滑动；所述直流电机、45゜折镜、平凸镜和光电探测器依次设置于所述平台支架上；所述遮光摆臂设置于所述直流电机上，与所述直流电机的轴连接，所述遮光摆臂的长度大于或等于所述45゜折镜的直径；所述示波器通过导线与所述光电探测器连接。本实用新型具有结构简单，操作方便，测量准确，成本低廉，适用于工业生产等优点。

技术领域

本实用新型涉及激光测量领域，尤其涉及一种测量紫外光光斑大小的装置。

背景技术

光斑大小是激光参数测量的基础，同时也是很重要的一项激光测量参数。激光的光斑大小在激光器的应用与研究中都有着重要的影响。现有技术中，激光光斑大小的常用测量方法主要有三种：套孔法、刀口法和CCD(Charge-coupled Device)测量法。其中，套孔法对待测激光的光斑形状有限制，而且精度较低，目前使用较少；刀口法适用范围广，主要是通过机械刀口等类似结构切割光斑，根据光斑的定义，利用功率计探测光斑定义范围内机械刀口移动的距离，计算得到光斑的大小，但是测量过程比较繁琐，刀口仪器调节精度和操作人员的个人因素对测试结果影响较大，测试结果重复性较差并且测试时间较长；CCD测量法是通过电荷耦合器件将所响应波长的光子进行光电转换，然后通过软件处理在光斑的形状和参数等在计算机屏幕上显示出来，这种方法测量参数准确并且光斑形态显示得更加直观，是常用的一种测量仪器，但CCD测量法测量光斑的仪器设备价格较高，并且受电荷耦合器件的限制，光斑测量仪器可测试的波长范围和光斑大小都受到很大的限制。

紫外光是激光应用和研究中常用的波段，其波长特殊性使很多CCD测量仪器都响应不到或者响应度很低，测试较为困难，紫外光的光斑测试受到很大限制。而刀口法测量精度和速度又不能很好地满足其在工业生产中应用。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术的不足，提供一种结构简单，操作方便的测量紫外光光斑大小的装置。

为了达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种测量紫外光光斑大小的装置，包括导轨、光阑、平台支架、直流电机、遮光摆臂、45゜折镜、平凸镜、光电探测器和示波器；

所述光阑和平台支架依次设置于所述导轨上，并能够沿着所述导轨滑动；所述光阑中心与所述导轨在同一垂直线上；所述直流电机、45゜折镜、平凸镜和光电探测器依次设置于所述平台支架上，所述光电探测器用于将光信号转换成电信号；所述遮光摆臂设置于所述直流电机上，与所述直流电机的轴连接，并在所述直流电机的驱动下绕着所述45゜折镜匀速旋转，所述遮光摆臂的大小能够完全遮住待测光斑；所述示波器通过导线与所述光电探测器连接，所述示波器用于读取所测激光波形的上升时间。

优选的，所述45°折镜的表面镀有待测激光波段的反射膜。

优选的，所述平凸镜的材质能够透射待测激光波长，或者所述平凸镜的表面镀有待测激光波长的增透膜。

优选的，所述平凸镜与所述光电探测器之间的距离要保证所述平凸镜汇聚后的待测光全部能够进入到所述光电探测器中，并且待测光汇聚后的焦点不在光电探测器上。

本实用新型是利用激光光斑大小与激光波形的上升时间与呈线性关系的原理，将光信号转化成电信号后，测定出待测激光波形的上升时间，进而计算出待测激光的光斑大小，具有结构简单，操作方便，测量准确，成本低廉，适用于工业生产等优点。另外，本实用新型不仅局限于紫外光光斑大小的测量，本实用新型思路可适用于所有波段的光斑大小测量。

附图说明

图1为本实用新型的一种测量紫外光光斑大小的装置的结构示意图。

图2为本实用新型的一种测量紫外光光斑大小的装置的俯视图。