[实用新型]一种三极管放大电路特性参数测量仪

说明书

本发明涉及教学仪器设备技术领域，尤其涉及一种三极管放大电路特性参数测量仪，包括：微控制器、DDS、压控衰减器、输入阻抗网络、多路压控放大器、多路检波器、高精度ADC、高速ADC、输出阻抗网络；微控制器控制DDS产生电压信号，控制程控衰减器、输入阻抗网络和输出阻抗网络来调整被测三极管放大电路的输入与输出信号，并将上述三个模块输出信号送入多路程控放大器、高速ADC、多路检波器及高精度ADC获得A/D采样值，微控制器通过算法分析采样值从而得到被测电路特性参数并发至串口屏和网络模块。本发明能对放大电路的输入输出阻抗、放大倍数、频率响应、谐波失真等参数进行快速和精准的测量，并具有远程交互功能，可作为高校实验教学仪器使用。

技术领域

本发明涉及教学仪器设备技术领域，尤其涉及一种三极管放大电路特性参数测量仪。

背景技术

在目前的高校电子电路类课程教学中，往往需要对三极管放大电路的输入输出阻抗、放大倍数、频率响应、谐波失真等特性进行测量，并涉及共射、共基和共集三种组态的测量教学。而目前教学中，一般需要使用信号发生器、示波器等多种仪器的配合来测量，测量过程非常繁琐、耗费时间较长且测量精度一般，更重要的是繁琐的测量过程等会影响学生的学习热情，导致学生的学习积极性较低、教学的效果较差。

专利CN201621102856.0公开了一种电路参数测量仪，采用单片机控制核心，主要由正弦波发生器、数据采集存储、处理、显示等功能模块组成，其中，数据处理包括了幅频测量以及相频测量部分，实际操作通过单片机触屏控制来实现参数测量，采用DDS芯片AD9854实现正交信号的发生，通过模拟乘法器实现参数测量。

但是其仍然存在着测量速度慢、精度差的问题，从而严重影响教学质量、影响学生的学习积极性；无法满足对于不同的参数进行区别对待，例如对于测量速度要求高的参数，优先考虑其测量速度，对于精度较高的参数优先考虑其精度。

因此，现在需要一种能自动、快速测量三极管放大电路各项参数，并且可满足较高精度的三极管放大电路特性参数测量仪。

发明内容

本发明的主要目的在于克服现有技术中的不足，提供一种三极管放大电路特性参数测量仪。该测量仪具有自动、快速测量三极管放大电路各项参数、测量精度高等优点。

本发明为实现其技术目的所采用的技术方案是：一种三极管放大电路特性参数测量仪，其结构特点是，包括：外壳和内部的微控制器、DDS、程控衰减器、输入阻抗网络、多路程控放大器、多路检波器、高精度ADC、高速ADC以及输出阻抗网络。其各种特征参数测量方案均按照高校电子电路类相关课程中晶体三极管放大器实验原理设计。

具体地，微控制器控制DDS产生电压信号，控制程控衰减器、输入阻抗网络和输出阻抗网络调整被测三极管放大电路的输入与输出信号，并将上述三个模块输出信号送入多路程控放大器、高速ADC、多路检波器及高精度ADC获得A/D采样值，微控制器通过处理采样值从而得到被测电路的特性参数并发至串口屏和网络模块。

优选地，所述输入阻抗网络、输出阻抗网络实现方式为低阻抗模拟开关选通对应阻抗网络。

优选地，所述多路程控放大器、程控衰减器由运算放大器与数字电位器构成，通过改变数字电位器阻值实现增益程控。

优选地，所述高速ADC采用10MSPS采样速率的12位ADC芯片AD9220。

具体地，对于需要快速测量的参数如输入、输出阻抗等，利用高速ADC可满足实际使用需求，测量测度更快。

优选地，所述高精度ADC采用24位分辨率和23位无噪声分辨率的8路ADC芯片ADS1256。

具体地，对于需要精确测量的参数如放大倍数、频率响应等，利用高精度ADC，可得到更为精确的测量结果。