[实用新型]试件尺寸激光测量装置有效
申请号: | 202020173404.1 | 申请日: | 2020-02-17 |
公开(公告)号: | CN211291346U | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 潘堃;叶洲元;刘文汇;刘续斌 | 申请(专利权)人: | 湖南科技大学 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 杨千寻;冯振宁 |
地址: | 411100*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 尺寸 激光 测量 装置 | ||
本实用新型涉及测量技术领域,公开一种试件尺寸激光测量装置,包括具有相互垂直的底板和侧板的L型框架,侧板内表面上垂直伸出有与底板平行的水平杆和刻度杆,水平杆和刻度杆之间具有间距且等高设置,水平杆上装有可沿水平杆滑移的激光光源,底板在水平杆与刻度杆之间的尺寸投影范围内设置有试件支撑架,底板上设有路径供试件支撑架作与水平杆方向平行的移动;刻度杆包括带孔主刻度杆和无孔副刻度杆,无孔副刻度杆紧贴在带孔主刻度杆上,带孔主刻度杆上的孔供激光通过,刻度杆背面布置有供激光光源照射的光幕,光幕与刻度杆之间具有间距且光幕分别与底板、侧板垂直。通过读取光幕上的激光光源点或副刻度杆上的刻度值即可精确得到试件尺寸。
技术领域
本实用新型涉及尺寸测量技术领域,具体地,涉及一种试件尺寸激光测量装置。
背景技术
对科研实验而言,试件是整个实验中最重要的部分之一,在诸多影响实验结果的因素中,试件的尺寸数据将直接影响到实验的最终结果。精确的试件尺寸是确定实验计算和分析结果的准确性、实现工程决策和设计科学化的必要前提条件。
为了实验可以顺利地进行下去,应该首先对影响实验的各种因素进行充分的思考和分析,只有这样才能做出合理的、实验效果好的实验方案。对于矿业工程来说,只有从一开始就掌握了试件的精确尺寸,获得准确的实验数据,实验才能顺利的进行下去,提高实验效率。因此,在实验过程中,要根据不同的试件构造,测出相应尺寸的精确数据,这对进行实验具有重要的意义。
目前我们在对中小型试件尺寸进行测量的过程中大多会使用游标卡尺或者电子游标卡尺等测量工具来测量,但是在使用测量工具时,由于试件或者测量工具本身材料在受力的情况下会发生形变,这样一来就无法得到准确的试件尺寸数据,此后再通过其他手段进行调整减少数据误差,无疑加大了工作难度,浪费了不必要的时间和精力。
发明内容
本实用新型解决的技术问题在于克服现有技术的缺陷,提供一种结构简单、可精准测量线性尺寸的试件尺寸激光测量装置。
本实用新型的目的通过以下技术方案实现:
一种试件尺寸激光测量装置,包括具有相互垂直的底板和侧板的L型框架,侧板内表面上垂直伸出有与底板平行的水平杆和刻度杆,水平杆和刻度杆之间具有间距且在侧板上等高设置,水平杆上安装有可沿水平杆滑移的激光光源,底板在水平杆与刻度杆之间的尺寸投影范围内设置有试件支撑架,底板上设有路径供试件支撑架作与水平杆伸出方向平行的移动。
其中,刻度杆包括带孔主刻度杆和无孔副刻度杆,无孔副刻度杆紧贴在带孔主刻度杆的上方或下方,带孔主刻度杆上的孔供激光通过,刻度杆背面布置有供激光照射的光幕,光幕与刻度杆之间具有间距且光幕分别与底板、侧板垂直。
进一步地,试件支撑架包括与底板接触的支架及设于支架顶端的支撑平台。
更进一步地,支架由至少两个子支架套设连接而成。
再进一步地,支架由与底板接触的主支架及与支撑平台接触的副支架组成,副支架底部套设在主支架顶部。
还进一步地,副支架在套设至主支架顶端的套设部外周开设有贯通的螺纹孔,螺纹孔内拧设有与主支架抵接的紧定螺钉以使支架整体套设稳固。
更进一步地,支撑平台的支撑表面为粗糙表面。
进一步地,底板上的路径为平行于水平杆开设的贯通型凹槽,试件支撑架底部设置有与凹槽结构适配且沿凹槽滑移的滑移部。
更进一步地,凹槽为可防止滑移部在非水平方向脱出的限位型凹槽。
再进一步地,凹槽呈倒T结构。
与现有技术相比,本实用新型具有以下有益效果:
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