[发明专利]光机模组测试方法、设备、系统及计算机可读存储介质

说明书

本发明公开了一种光机模组测试方法。所述光机模组测试方法应用于光机模组测试系统，所述光机模组测试系统包括光机模组测试设备和测试暗箱，所述光机模组测试方法：所述光机模组测试设备通过所述测试暗箱内的光学性能感知芯片获取光机模组在所述测试暗箱内投影时的第一光学参数；根据所述第一光学参数和预设映射关系，得到第二光学参数；根据所述第二光学参数对所述光机模组的性能进行测试，得到测试结果。本发明还公开了一种光机模组测试设备、系统及计算机可读存储介质。本发明能够提高光机模组性能测试的测试效率，同时提高测试结果的准确性。

技术领域

本发明涉及光学测试技术领域，尤其涉及一种光机模组测试方法、设备、系统及计算机可读存储介质。

背景技术

光机模组，是DLP（Digital Light Processing，数字光处理技术）投影机的主体部分。在DLP投影机的生产制造过程中，通常会对光机模组进行性能测试，以保证DLP投影机的产品质量。

当前，光机模组的性能测试一般都需要在暗房内进行，还需安装一个大于投影尺寸的屏幕进行实景测试。具体的，先通过光机模组将图像投于屏幕上，再借助于光学性能测试器件如CL200A（色彩照度计）、CL500A（分光辐射照度计）等工具测试其光学性能值，如照度、色度、色温等。此种测试方式，所需测试场地一般较大，且测试过程由操作员人工控制，操作员的熟练程度比较容易影响测试结果。因此，现有的光机模组的性能测试方法，其测试效率和测试结果的准确性均有待提高。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种光机模组测试方法、设备、系统及计算机可读存储介质，旨在提高光机模组性能测试的测试效率，同时提高测试结果的准确性。

为实现上述目的，本发明提供一种光机模组测试方法，应用于光机模组测试系统，所述光机模组测试系统包括光机模组测试设备和测试暗箱，所述光机模组测试方法包括以下步骤：

所述光机模组测试设备通过所述测试暗箱内的光学性能感知芯片获取光机模组在所述测试暗箱内投影时的第一光学参数；

根据所述第一光学参数和预设映射关系，得到第二光学参数；

根据所述第二光学参数对所述光机模组的性能进行测试，得到测试结果。

可选地，所述第一光学参数包括第一照度和第一色坐标，所述根据所述第一光学参数和预设映射关系，得到第二光学参数的步骤包括：

根据所述第一照度、所述第一色坐标和预设映射关系，得到第二照度和第二色坐标；

获取预设遮光数值，将所述第二照度与所述预设遮光数值进行乘法运算，得到第三照度，其中，所述第二光学参数包括所述第二色坐标和所述第三照度。

可选地，所述根据所述第一光学参数和预设映射关系，得到第二光学参数的步骤之前，还包括：

判断所述第一照度是否小于预设阈值；

若所述第一照度大于或等于预设阈值，则生成对应的提示信息，以提示测试环境不合格或光机模组存在漏光现象；

若所述第一照度小于预设阈值，则执行步骤：根据所述第一光学参数和预设映射关系，得到第二光学参数。

可选地，所述根据所述第二光学参数对所述光机模组的性能进行测试，得到测试结果的步骤包括：

根据所述第二光学参数和预设规则计算得到第三光学参数，其中，所述第三光学参数包括色温、均匀度和对比度中的一种或多种；

检测所述第二光学参数和所述第三光学参数是否符合预设条件，以对所述光机模组的性能进行测试，得到测试结果。

可选地，所述光机模组测试方法还包括：