[发明专利]显示面板的调试方法及装置

说明书

本申请公开了一种显示面板的调试方法及装置。方法包括：获取显示面板的扇出云纹区域，将所述扇出云纹区域沿第一方向进行分割，分成若干第一子区域，其中，每一第一子区域均设置有一第一绑点；根据第一绑点的初始灰阶值，获得相应的第一子区域的扇出云纹程度以及第一校正值；根据第一校正值，对相应的第一子区域进行灰阶补偿，获取补偿后的第一显示画面。本申请解决了数据集成电路区域内充电不均的问题，改善了扇出区域的云纹现象，保证了画质均匀性，提升了产品的显示品质。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板的调试方法及装置。

背景技术

大尺寸面板存在阻容迟滞(RC delay)问题，导致各个区域的像素充电不均匀进而影响产品画质。液晶面板每一颗数据集成电路(Data IC)中间的数据线长度比两边的短，即数据集成电路中心走线上的阻容小于边界位置走线的阻容。因此，在较短充电时间内，数据集成电路边缘部分的亮度明显低于中间部分，此现象称为扇出云纹(fan-outmura)。

现有技术采用控制数据集成电路的边缘部分与中间部分走线的充电时间，以达到改善扇出云纹效果。但是面板尺寸越大，刷新率越高，不同区域充电差异越大，每颗数据集成电路的充电效果均不一致，很难使得每颗数据集成电路的两边与中间充电一致并保证整面均匀。

此外，目前行业内还使用行过驱动(Line Over Driver，简称LOD)算法，以改善面板充电不足引起的画质均匀问题。具体地，指相邻像素的充电电压不一致时，使用一个过驱动电压，降低面板数据线阻容(Cell Data Line RC)的影响。其不足之处在于，该算法的分区数量有限。现有技术中，每个覆晶薄膜(Chip On Flex或Chip On Film，简称COF)之内约分2～3个区，而扇出区域相对分区变化细腻。因此，LOD算法分区无法完全对应到所有扇出区域，进而无法对扇出区域进行精细调试。

因此，有必要提供一种显示面板的调试方法及装置，以克服上述缺陷。

发明内容

本申请目的在于提供一种显示面板的调试方法及装置，可以改善每一颗数据集成电路区域内因为中心数据线与两边数据线长短不一造成的充电不均问题。

本申请实施例提供一种显示面板的调试方法，包括：获取显示面板的扇出云纹区域，将所述扇出云纹区域沿第一方向进行分割，分成若干第一子区域，其中，每一所述第一子区域均设置有一第一绑点；根据所述第一绑点的初始灰阶值，获得相应的所述第一子区域的扇出云纹程度以及第一校正值；根据所述第一校正值，对相应的所述第一子区域进行灰阶补偿，获取补偿后的第一显示画面。

本申请实施例提供一种显示面板的调试装置，包括：分区单元、调试单元以及补偿单元。所述分区单元，用于获取显示面板的扇出云纹区域，将所述扇出云纹区域沿第一方向进行分割，分成若干第一子区域，其中，每一所述第一子区域均设置有一第一绑点；所述调试单元，用于根据所述第一绑点的初始灰阶值，获得相应的所述第一子区域的扇出云纹程度以及第一校正值；所述补偿单元，用于根据每一所述第一子区域的所述第一校正值，对相应的所述第一子区域进行灰阶补偿，获取补偿后的第一显示画面。

本申请具有如下有益效果：

本申请通过对扇出区域进行分区细化，并通过对分区设置绑点，增加了行过驱动算法的可调性；通过LOD算法，解决了每一颗数据集成电路区域内因为中心数据线与两边数据线长短不一造成的充电不均问题；改善了扇出区域的云纹现象，保证了画质均匀性，提升了产品的显示品质。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为本申请实施例的显示面板的调试方法的流程图。

图2A为显示面板调试前的扇出云纹现象示意图。

图2B为对图2A中A部分进行分区的放大示意图。