[发明专利]减少杂散光的单色仪

权利要求书

1.一种单色仪，其包括：

光源；

入射狭缝，其定位成使来自所述光源的光通过；

第一单色仪镜，其定位成反射通过所述入射狭缝的光；

衍射表面，其定位成接收并衍射由所述第一单色仪镜反射的光；

第二单色仪镜，其定位成反射由所述衍射表面衍射的光；

出射狭缝，其定位成使由所述第二单色仪镜反射的光通过；

比色皿，其定位成使通过所述出射狭缝的光通过；

长通干涉滤光器，其定位成接收来自所述光源的光、反射波长低于选定值的光并使波长高于所述选定值的光通过；以及

第一样品检测器，其定位成接收由所述长通干涉滤光器反射的光。

2.根据权利要求1所述的单色仪，其进一步包括定位成朝所述入射狭缝反射来自所述光源的光的源镜。

3.根据权利要求1所述的单色仪，其进一步包括定位成朝所述比色皿反射来自所述出射狭缝的光的样品镜。

4.根据权利要求1所述的单色仪，其进一步包括位于所述比色皿与所述长通干涉滤光器之间的样品透镜。

5.根据权利要求1所述的单色仪，其进一步包括定位成接收通过所述出射狭缝的光的分束器。

6.根据权利要求5所述的单色仪，其进一步包括定位成接收由所述分束器反射的光的第一参考检测器。

7.根据权利要求6所述的单色仪，其进一步包括位于所述分束器与所述第一参考检测器之间的参考长通干涉滤光器。

8.根据权利要求6所述的单色仪，其进一步包括位于所述分束器与所述第一参考检测器之间的参考透镜。

9.根据权利要求6所述的单色仪，其进一步包括位于所述分束器与所述第一参考检测器之间的参考比色皿。

10.根据权利要求6所述的单色仪，其进一步包括定位成接收通过所述参考长通干涉滤光器的光的第二参考检测器。

11.根据权利要求1所述的单色仪，其中所述长通干涉滤光器位于所述比色皿与所述第一样品检测器之间。

12.根据权利要求11所述的单色仪，其进一步包括位于所述比色皿与所述长通干涉滤光器之间的样品透镜。

13.根据权利要求11所述的单色仪，其进一步包括定位成接收通过所述长通干涉滤光器的光的第二样品检测器。

14.根据权利要求11所述的单色仪，其中所述长通干涉滤光器相对于由所述长通干涉滤光器接收的光以一定角度定位。

15.根据权利要求14所述的单色仪，其中所述角度为大约45°。

16.根据权利要求1所述的单色仪，其中所述长通干涉滤光器位于所述光源与所述入射狭缝之间。

17.根据权利要求16所述的单色仪，其进一步包括位于所述光源与所述长通干涉滤光器之间的源镜。

18.根据权利要求1所述的单色仪，其进一步包括滤光器组件，所述滤光器组件包含所述长通干涉滤光器和多个额外的长通干涉滤光器，所述长通干涉滤光器和所述多个额外的长通干涉滤光器配置成可互换地位于所述光源与所述第一样品检测器之间。

19.根据权利要求18所述的单色仪，其中所述滤光器组件包含可旋转滤光轮，所述长通干涉滤光器和所述多个额外的长通干涉滤光器围绕所述轮设置。