[实用新型]一种用于薄片试样截面研磨抛光的夹持装置

说明书

本实用新型涉及金属试样研磨抛光领域，尤其涉及一种薄片试样截面研磨抛光夹持装置。包括夹具本体；所述夹具本体为底端敞开的壳体结构，一波珠螺丝穿过该壳体结构的顶面并与壳体结构螺纹相连，通过调节波珠螺丝旋进壳体结构顶面的深度，波珠螺丝伸入壳体内腔的深度可调；所述壳体结构的两侧各设有一波珠螺丝，两波珠螺丝分别穿过壳体结构的侧壁并与侧壁螺纹相连，分别调节波珠螺丝旋进壳体结构侧面的深度，两波珠螺丝伸入壳体内腔的深度可调；所述夹具本体还包括一限位滑块及两夹持板。

技术领域

本实用新型涉及金属试样研磨抛光领域，尤其涉及一种薄片试样截面研磨抛光夹持装置。

背景技术

微观组织结构观察是材料研究的重要组成部分，也是基础的研究手段。目前，材料显微分析检测技术发展迅速，各类显微镜的放大倍数越来越高，但对试样的制备要求也越来越高。试样制备是微观检测的重要环节，试样制备的质量，直接影响微观组织的观察效果。对于一些表面进行强化处理的试样：如电镀，阳极氧化，微弧氧化，高能束流等，尤其是本身较薄的试样，在观察其截面状态时，需要进行截面镶样处理。

目前，常用的样品镶嵌方法主要有机械镶嵌法和树脂镶嵌法。其中，树脂镶嵌法是实验室常用的镶样方法，其可以镶嵌任何形状的试样。树脂镶嵌法主要有热压镶嵌法和浇注镶嵌法两种，两种方法采用的镶嵌原料主要为聚四氟乙烯、电木粉、环氧树脂等高分子化合物。而对于高温检测设备，特别是一些较先进的扫描设备，不允许其直接随同试样一起检测，需要将试样脱离。这就导致操作非常困难，甚至损坏已制备好的试样。

因此，迫切需要一种夹持装置，适用于薄片试样截面研磨和抛光，且方便拆卸，并可重复使用。

发明内容

本实用新型就是针对现有技术存在的缺陷，提供一种用于薄片试样截面研磨抛光的夹持装置，其结构简单、方便拆卸、且可重复使用，能够固定不同厚度薄片试样。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案，包括夹具本体；其特征在于：所述夹具本体为底端敞开的壳体结构，（壳体结构的内腔作为试样槽，用于放置试样）一波珠螺丝穿过该壳体结构的顶面并与壳体结构螺纹相连，通过调节波珠螺丝旋进壳体结构顶面的深度，波珠螺丝伸入壳体内腔的深度可调。

所述壳体结构的两侧各设有一波珠螺丝，两波珠螺丝分别穿过壳体结构的侧壁并与侧壁螺纹相连，分别调节波珠螺丝旋进壳体结构侧面的深度，两波珠螺丝伸入壳体内腔的深度可调。

所述夹具本体还包括一限位滑块及两夹持板；使用时，限位滑块横向放置于壳体结构内腔中、顶面的波珠螺丝下方；薄片试样纵向放置于壳体结构的内腔，夹于限位滑块及壳体结构左右两侧的波珠螺丝之间，且薄片试样两侧各设置有一夹持板，在两侧的波珠螺丝施力于薄片试样时，用于保护薄片试样。

调节壳体结构顶面的波珠螺丝旋进内腔的深度，施力于限位滑块，通过限位滑块顶紧薄片试样的顶部，实现薄片试样的轴向限位；调节壳体结构左右两侧的波珠螺丝旋进内腔的深度，施力于试样两侧的夹持板，实现薄片试样的左右限位。

作为本实用新型的一种优选方案，所述壳体结构呈立方体状，材质采用不锈钢或其他耐腐蚀的金属材料，该壳体结构的内腔呈圆柱体状或长方体状或立方体状。

作为本实用新型的另一种优选方案，限位滑块的外轮廓满足其可与壳体结构内腔的横截面无缝贴合；当壳体结构的内腔呈圆柱体状时，限位滑块的横截面呈圆形；当壳体结构的内腔呈长方体状或立方体状时，限位滑块也为相应的条形板状结构。

作为本实用新型的另一种优选方案，限位滑块的宽度既大于壳体结构顶部的波珠螺丝的宽度又大于薄片试样的宽度。

作为本实用新型的另一种优选方案，壳体结构顶部的波珠螺丝的中心线与夹具本体的中心线相重合，且该波珠螺丝露出壳体结构的一端配备有定位螺母。