[实用新型]一种用于薄片试样截面研磨抛光的夹持装置有效

专利信息
申请号: 201921203721.7 申请日: 2019-07-29
公开(公告)号: CN210307283U 公开(公告)日: 2020-04-14
发明(设计)人: 杜春燕;黄树涛;赵晖 申请(专利权)人: 沈阳理工大学
主分类号: B24B37/27 分类号: B24B37/27;B24B41/06;B24B47/22
代理公司: 沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107 代理人: 邵明新
地址: 110159 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 薄片 试样 截面 研磨 抛光 夹持 装置
【权利要求书】:

1.一种用于薄片试样截面研磨抛光的夹持装置,包括夹具本体;其特征在于,所述夹具本体为底端敞开的壳体结构,一波珠螺丝穿过该壳体结构的顶面并与壳体结构螺纹相连,通过调节波珠螺丝旋进壳体结构顶面的深度,波珠螺丝伸入壳体内腔的深度可调;

所述壳体结构的两侧各设有一波珠螺丝,两波珠螺丝分别穿过壳体结构的侧壁并与侧壁螺纹相连,分别调节波珠螺丝旋进壳体结构侧面的深度,两波珠螺丝伸入壳体内腔的深度可调;

所述夹具本体还包括一限位滑块及两夹持板;使用时,限位滑块横向放置于壳体结构内腔中、顶面的波珠螺丝下方;薄片试样纵向放置于壳体结构的内腔,夹于限位滑块及壳体结构左右两侧的波珠螺丝之间,且薄片试样两侧各设置有一夹持板,在两侧的波珠螺丝施力于薄片试样时,用于保护薄片试样;

调节壳体结构顶面的波珠螺丝旋进内腔的深度,施力于限位滑块,通过限位滑块顶紧薄片试样的顶部,实现薄片试样的轴向限位;调节壳体结构左右两侧的波珠螺丝旋进内腔的深度,施力于试样两侧的夹持板,实现薄片试样的左右限位。

2.根据权利要求1所述的一种用于薄片试样截面研磨抛光的夹持装置,其特征在于:所述壳体结构呈立方体状,材质采用不锈钢或其他耐腐蚀的金属材料,该壳体结构的内腔呈圆柱体状或长方体状或立方体状。

3.根据权利要求1所述的一种用于薄片试样截面研磨抛光的夹持装置,其特征在于:限位滑块的外轮廓满足其可与壳体结构内腔的横截面无缝贴合;当壳体结构的内腔呈圆柱体状时,限位滑块的横截面呈圆形;当壳体结构的内腔呈长方体状或立方体状时,限位滑块也为相应的条形板状结构。

4.根据权利要求3所述的一种用于薄片试样截面研磨抛光的夹持装置,其特征在于:所述限位滑块的宽度既大于壳体结构顶部的波珠螺丝的宽度又大于薄片试样的宽度。

5.根据权利要求1所述的一种用于薄片试样截面研磨抛光的夹持装置,其特征在于:壳体结构顶部的波珠螺丝的中心线与夹具本体的中心线相重合,且该波珠螺丝露出壳体结构的一端配备有定位螺母。

6.根据权利要求1所述的一种用于薄片试样截面研磨抛光的夹持装置,其特征在于:壳体结构两侧的波珠螺丝位置相对应,位于一条直线上,且分别垂直于所穿过的侧壁;两侧的波珠螺丝均配备有定位螺母。

7.根据权利要求4所述的一种用于薄片试样截面研磨抛光的夹持装置,其特征在于:所述的限位滑块用于调节试样,选用不锈钢材质。

8.根据权利要求1所述的一种用于薄片试样截面研磨抛光的夹持装置,其特征在于:所述夹持板采用易于研磨的聚四氟乙烯或环氧树脂材质。

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