[发明专利]一种BTM测试设备I2C驱动电路

说明书

本发明涉及一种BTM测试设备I2C驱动电路，包括I2C总线中继器，该I2C总线中继器的的第一电源引脚连接MCU的3.3V电源信号，第二电源引脚连接BTM设备的5V电源信号，所述I2C总线中继器的第一串行时钟引脚和第一数据引脚连接MCU，第二串行时钟引脚和第二数据引脚连接BTM设备。与现有技术相比，本发明具有电路简单，外围电路少，易维护等优点。

技术领域

本发明涉及一种驱动电路，尤其是涉及一种BTM测试设备I2C驱动电路。

背景技术

在现有BTM测试设备中，I2C接口的读取一般采用直接连接的方式与MCU连接，由于MCU一侧电平信号为3.3V，BTM设备侧信号为5V，这样如果MCU与BTM设备接口距离较远的话，会出现信号的失真和不稳定，对于读取BTM设备中I2C接口的数据来说会有很大影响。而且如果直接连接的话，由于他们直接的电平信号有压差，长时间工作会造成管脚的损坏。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种BTM测试设备I2C驱动电路。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种BTM测试设备I2C驱动电路，包括I2C总线中继器，该I2C总线中继器的的第一电源引脚连接MCU的3.3V电源信号，第二电源引脚连接BTM设备的5V电源信号，所述I2C总线中继器的第一串行时钟引脚和第一数据引脚连接MCU，第二串行时钟引脚和第二数据引脚连接BTM设备。

所述I2C总线中继器为TCA9517DR。

所述第一电源引脚还通过第一电容接地，第二电源引脚通过第二电容接地。

所述第一电容和第二电容的容值均为0.1uF。

所述第一串行时钟引脚和第一数据引脚，以及第二串行时钟引脚和第二数据引脚均连接有上拉电阻。

所述上拉电阻的阻值为1KΩ。

所述I2C总线中继器的接地引脚接地。

所述I2C总线中继器的使能引脚悬空。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

1)电路简单，外围电路少，易维护；

2)工业温度工作范围，可兼容3.3V和5V电平信号。

3)静电放电(ESD)保护性能超过JESD22规范的要求。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。本实施例以本发明技术方案为前提进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本发明的保护范围不限于下述的实施例。

一种BTM测试设备I2C驱动电路，如图1所示，包括I2C总线中继器，该I2C总线中继器的的第一电源引脚连接MCU的3.3V电源信号，第二电源引脚连接BTM设备的5V电源信号，I2C总线中继器的第一串行时钟引脚和第一数据引脚连接MCU，第二串行时钟引脚和第二数据引脚连接BTM设备。

I2C总线中继器为TCA9517DR，I2C总线中继器U1为双向缓冲器，适用于I2C总线，其1脚为第一电源引脚，8脚为第二电源引脚，2脚为第一串行时钟引脚，3脚为第一数据引脚，7脚为第二串行时钟引脚，6脚为第二数据引脚，4脚为接地引脚，5脚为使能引脚。

第一电源引脚还通过第一电容C1接地，第二电源引脚通过第二电容C2接地，第一电容C1和第二电容C2的容值均为0.1uF。