[实用新型]一种用于高通量测序的芯片离心机

权利要求书

1.一种用于高通量测序的芯片离心机，其特征在于：包含机体，机体内部安装通过电机驱动的离心转轴，离心转轴的顶端固定安装有离心转动架，离心转动架位于机体的开口下方；机体的开口上设置有离心机盖；

所述离心转动架上安装有用于放置芯片的芯片托盘，所述芯片托盘的中心为卡槽，卡槽左侧为左边缘，卡槽右侧为右边缘；左边缘为圆弧形，右边缘为竖直边，右边缘靠近上部和下部的位置分别倾斜设置有上硅胶绷带和下硅胶绷带；芯片经由左边缘插入卡槽后，芯片右侧嵌入上硅胶绷带、下硅胶绷带的下表面。

2.如权利要求1所述的一种用于高通量测序的芯片离心机，其特征在于：所述离心机盖为透明盖；所述离心机盖为螺纹连接或者合页铰接。

3.如权利要求1所述的一种用于高通量测序的芯片离心机，其特征在于：所述离心转动架上的托盘的数量为两个，分别为左侧托盘和右侧托盘，且左右对称设置。

4.如权利要求3所述的一种用于高通量测序的芯片离心机，其特征在于：芯片放入左侧托盘时，芯片的缺角位于右上角，芯片的大孔朝左，小孔朝右；放入右侧托盘时，芯片的缺角位于左下角，芯片的大孔朝右，小孔朝左。