[发明专利]X线影像设备的曝光剂量调节方法及X线影像设备

权利要求书

1.X线影像设备的曝光剂量调节方法，其中，X线照射一对象，并且至少由第一曝光参数和第二曝光参数确定X线的剂量，其特征在于，所述方法包括：

确定所述对象的实际厚度；

根据所述实际厚度相比于标准厚度的厚度变化，确定用于所述实际厚度的X线剂量相比于用于所述标准厚度的X线剂量的剂量变化；

根据所述厚度变化，调整所述第一曝光参数并由此确定所述剂量变化的第一分量；以及

基于所述第一分量，确定所述剂量变化的第二分量，并根据所述第二分量调整所述第二曝光参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，调整所述第一曝光参数并由此确定所述剂量变化的第一分量包括：

获取预定的与所述标准厚度对应的标准第一曝光参数；

根据所述标准第一曝光参数和所述厚度变化，确定与所述实际厚度对应的实际第一曝光参数；以及

根据所述实际第一曝光参数相比于所述标准第一曝光参数的变化，确定所述第一分量。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，确定与所述实际厚度对应的实际第一曝光参数包括：

根据所述厚度变化映射至所述第一曝光参数形成的曝光特征曲线，确定所述实际第一曝光参数。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，确定用于所述实际厚度的X线剂量相比于用于所述标准厚度的X线剂量的剂量变化包括：

确定在所述标准第一曝光参数下，所述对象的组织衰减系数；

根据所述对象的组织比率和所确定的组织衰减系数，计算所述对象的有效衰减系数；以及

基于所述有效衰减系数和所述厚度变化，计算所述剂量变化。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述对象的实际厚度包括：

获取所述实际厚度的输入或者使用测距传感器确定所述实际厚度。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，调整所述第一曝光参数并由此确定所述剂量变化的第一分量包括：

根据X线剂量随所述第一曝光参数变化的经验数据，确定所述第一分量。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述第一分量，确定所述剂量变化的第二分量，根据所述第二分量调整所述第二曝光参数包括：

从所述剂量变化中去除所述第一分量，得到所述剂量变化的第二分量；

获取预定的与所述标准厚度对应的标准第二曝光参数；以及

根据X线剂量随所述第二曝光参数变化的经验数据，调整所述第二曝光参数。

8.X线影像设备，其中，X线照射一对象，并且至少由第一曝光参数和第二曝光参数确定X线的剂量，其特征在于，所述X线影像设备包括：

厚度确定模块，用于确定所述对象的实际厚度；

剂量变化确定模块，用于根据所述实际厚度相比于标准厚度的厚度变化，确定用于所述实际厚度的X线剂量相比于用于所述标准厚度的X线剂量的剂量变化；

第一曝光参数调整模块，用于根据所述厚度变化，调整所述第一曝光参数并由此确定所述剂量变化的第一分量；以及

第二曝光参数调整模块，用于基于所述第一分量，确定所述剂量变化的第二分量，并根据所述第二分量调整所述第二曝光参数。

9.根据权利要求8所述的X线影像设备，其特征在于，所述第一曝光参数调整模块还用于：

获取预定的与所述标准厚度对应的标准第一曝光参数；

根据所述标准第一曝光参数和所述厚度变化，确定与所述实际厚度对应的实际第一曝光参数；以及

根据所述实际第一曝光参数相比于所述标准第一曝光参数的变化，确定所述第一分量。

10.根据权利要求9所述的X线影像设备，其特征在于，所述第一曝光参数调整模块还用于：

根据所述厚度变化映射至所述第一曝光参数形成的曝光特征曲线，确定所述实际第一曝光参数。