[发明专利]一种现代汉语语音教学唇形阻塞的矫正方法

权利要求书

1.一种现代汉语语音教学唇形阻塞的矫正方法，其特征在于，包括以下步骤：

对用户发音时的唇形动态进行量化检测，确定用户发音时唇形阻塞的横向展/缩度和纵向开/合度；

将所述唇形的横向展/缩度和所述的纵向开/合度，形成T形坐标轴，该T形坐标轴的原点为横向展/缩度连线的中点；

根据用户发出的音素，通过预先设定的T形坐标系，生成对应的标准T形坐标轴；

将所述T形坐标轴与所述标准T形坐标轴进行比较，当比较结果为所述T形坐标轴与所述标准T形坐标轴不相符的情况下，判定为发音错误，并根据所述标准T形坐标轴上的横向展/缩度和纵向开/合度进行唇形阻塞矫正；

同时，当比较结果为所述T形坐标轴与所述标准T形坐标轴相符的情况下，判定为发音正确；

其中，所述T形坐标系由以下元素构成：

所述T形坐标系的横向坐标由唇角连线构成，且以唇角为原点，以唇角的内侧收缩为负坐标，以唇角的外侧伸展为正坐标，形成1-3个均等刻度的横向坐标，其中，刻度0与元音a相对应，刻度1与元音e、ê、er相对应，刻度2与舌尖前元音的-i和舌尖后元音的-i相对应，刻度3与元音i相对应，刻度-1与元音o相对应，刻度-2与元音ü相对应，刻度-3与元音u相对应；

所述T形坐标系的纵向坐标以所述唇角连线的中点为纵向坐标原点，以下嘴唇方向为纵向延伸方向，以原点为起点形成1-4个均等刻度的纵向坐标，其中，刻度1与舌面高元音线相对应，刻度2与舌面半高元音线相对应，刻度3与舌面半低元音线一致，刻度4与舌面低元音线一致；

所述横向坐标的每一刻度与所述纵向坐标的每一刻度间距相等。

2.根据权利要求1所述的现代汉语语音教学唇形阻塞的矫正方法，其特征在于：所述T形坐标系的纵向坐标的原点对应辅音b、p、m和f的阻塞状态；刻度1对应辅音j、p、x、z、c、s、zh、ch、sh、r和元音i、u、ü以及舌尖前元音-i与舌尖后元音-i的阻塞状态，刻度2对应辅音d、t、n、l、g、k、h、ng和元音e、o的阻塞状态，刻度3对应元音音素ê的阻塞状态，刻度4对应元音a的阻塞状态。

3.一种现代汉语语音教学唇形阻塞的矫正系统，其特征在于，包括：

检测模块，对用户发音时的唇形动态进行量化检测，确定用户发音时唇形阻塞的横向展/缩度和纵向的开/合度；

形成模块，用于将所述唇形阻塞的横向展/缩度和所述纵向开/合度，形成T形坐标轴，该T形坐标轴的原点为横向展/缩度连线的中点；

生成模块，用于根据用户发出的音素，通过预先设定的T形坐标系，生成对应的标准T形坐标轴；

比较模块，用于将所述T形坐标轴与所述标准T形坐标轴进行比较，当比较结果为所述T形坐标轴与所述标准T形坐标轴不相符的情况下，判定为发音错误，并根据所述标准T形坐标轴上的横向展/缩度和纵向开/合度进行唇形阻塞矫正；当比较结果为所述T形坐标轴与所述标准T形坐标轴相符的情况下，判定为发音正确；

其中，所述T形坐标系由以下元素构成：

所述T形坐标系的横向坐标由唇角连线构成，且以自然唇角为原点，以唇角的内侧收缩为负坐标，以唇角的外侧伸展为正坐标，形成1-3个均等刻度的横向坐标，其中，刻度0与元音a相对应，刻度1与元音e、ê、er相对应，刻度2与舌尖前元音-i和舌尖后元音-i相对应，刻度3与元音i相对应，刻度-1与元音o相对应，刻度-2与元音ü相对应，刻度-3与元音u相对应；

所述T形坐标系的纵向坐标以所述唇角连线的中点为纵向坐标原点，以下嘴唇方向为纵向延伸方向，以原点为起点形成1-4个均等刻度的纵向坐标，其中，刻度1与舌面高元音线相对应，刻度2与舌面半高元音线相对应，刻度3与舌面半低元音线一致，刻度4与舌面低元音线一致；

所述横向坐标的每一刻度与所述纵向坐标的每一刻度间距相等。

4.根据权利要求3所述的现代汉语语音教学唇形阻塞的矫正系统，其特征在于：所述T形坐标系的纵向坐标的原点对应辅音b、p、m和f的阻塞状态；刻度1对应辅音j、p、x、z、c、s、zh、ch、sh、r和元音i、u、ü以及舌尖前-i与舌尖后-i的阻塞状态，刻度2对应辅音d、t、n、l、g、k、h、ng和元音e、o的阻塞状态，刻度3对应元音ê的阻塞状态，刻度4对应元音a的阻塞状态。