[发明专利]表面检测方法

权利要求书

1.一种表面检测方法，其特征在于，至少包括下列步骤：

(a)建立至少一超音波图像模型及至少一光学影像模型；

(b)设定检测项目的范围及比对值，依照所需的检测项目，透过软体于该至少一超音波图像模型当中设定至少一与检测项目对应的超音波图像检测范围及超音波比对值，以及利用软体于该至少一光学影像模型当中设定至少一与检测项目对应的光学影像检测范围及光学比对值；

(c)提供一被测物；

(d)撷取该被测物的被测物超音波图像及被测物光学影像，利用至少一超音波成像设备撷取该被测物的被测物超音波图像，以及利用至少一数位相机撷取该被测物的被测物光学影像；

(e)比对被测物超音波图像及被测物光学影像，透过软体依照所设定的超音波图像检测范围及超音波比对值，将该被测物超音波图像的数位图像资讯与该至少一超音波图像模型的数位图像资讯进行比对，以及透过软体依照所设定的光学影像检测范围及光学比对值，将该被测物光学影像的数位影像资讯与该至少一光学影像模型的数位影像资讯进行比对；

(f)输出比对结果。

2.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该至少一超音波图像模型或该至少一光学影像模型透过软体建置而成；该超音波图像模型及该光学影像模型相对应于该被测物。

3.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一超音波成像设备撷取该实体模型的超音波图像之后，完成该至少一超音波图像模型。

4.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一数位相机撷取该实体模型的光学影像之后，完成该至少一光学影像模型。

5.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一超音波成像设备撷取该实体模型的超音波图像，透过软体修饰完成该至少一超音波图像模型。

6.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一数位相机撷取该实体模型的光学影像，透过软体修饰完成该至少一光学影像模型。

7.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在比对被测物超音波图像及被测物光学影像时，将该至少一超音波图像模型与被测物光学影像重叠的方式，以及将该至少一光学影像模型与被测物超音波图像重叠的方式，进行交叉比对。

8.如权利要求1至7其中任一所述的表面检测方法，其特征在于，该被测物为一停滞于一加工生产在线的产品或半成品。

9.如权利要求1至7其中任一所述的表面检测方法，其特征在于，该被测物为一于一加工生产在线移动的产品或半成品。

10.如权利要求1至7其中任一所述的表面检测方法，其特征在于，该被测物为一自一加工生产在线移出的产品或半成品。

11.如权利要求1至7其中任一所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，透过至少一传输介面，将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面所连接的至少一显示装置。

12.如权利要求1至7其中任一所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，透过至少一传输介面，将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面所连接的至少一控制装置。

13.如权利要求1至7其中任一所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，透过至少一传输介面，将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面所连接的至少一显示装置及至少一控制装置。