[发明专利]基于吸收剂量深度分布计算辐射敏感部位电离吸收剂量的方法

权利要求书

1.基于吸收剂量深度分布计算辐射敏感部位电离吸收剂量的方法，其特征在于，所述基于吸收剂量深度分布计算辐射敏感部位电离吸收剂量的方法具体包括以下步骤：

步骤一、选取一种已知一维电离吸收剂量深度分布D(t)的材料A；

步骤二、根据x＝ρ×t/10，将步骤一中选取材料A的吸收剂量深度分布D(t)转化为吸收剂量随等效厚度D(x)的分布，其中，ρ表示材料密度，t表示材料厚度，x表示等效厚度；

步骤三、以辐射敏感部位为球心做球体，使辐射敏感部位所处的结构完全包括在球体内，从径向E和维向ω将球体的表面划分为N个区域，N为大于2的整数，区域i所对应的径向尺寸范围为E_i，维向尺寸范围为ω_i，i∈[1,N]；

步骤四、将辐射敏感部位与区域i的边上各点连线，确定区域i与连线所包裹的部分对应结构中所包含的M种材料、每种材料的厚度以及辐射敏感部位与区域i连线的最大角度α_i；

步骤五、将步骤四中确定的区域i内所有材料的厚度转化为等效厚度x_i；

步骤六、根据步骤二中吸收剂量随等效厚度D(x)的分布，确定等效厚度x_i对应的吸收剂量D(x_i)；

步骤七、将D(x_i)转化为等效厚度x_i对应的单向吸收剂量D′(x_i)；

步骤八、重复步骤四～步骤七，分别得到i取1,2,…,N时对应的单向吸收剂量值D′(x₁)～D′(x_N)；

步骤九、计算得到结构中敏感部位的电离吸收剂量D，D的计算公式为：

2.根据权利要求1所述基于吸收剂量深度分布计算辐射敏感部位电离吸收剂量的方法，其特征在于，步骤五中，区域i的等效厚度x_i的计算过程为：

其中ρ_j表示第j种材料的密度，t_j表示第j种材料的厚度，j∈[1,M]。

3.根据权利要求1或2所述基于吸收剂量深度分布计算辐射敏感部位电离吸收剂量的方法，其特征在于，步骤七中，将D(x_i)转化为等效厚度x_i对应的单向吸收剂量D′(x_i)的具体过程为：

D′(x_i)＝D(x_i)/4π。