[发明专利]激励板与芯片老化监测系统

说明书

技术领域

本发明涉及芯片老化监测领域，具体而言，涉及一种激励板与芯片老化监测系统。

背景技术

芯片流片之后，为了保证出场芯片具有很好的稳定性能，筛选或剔除勉强合格、早期失效的器件，需要对所有芯片进行老化试验，一般情况下，老化试验需要不间断进行数十个小时，全程对IC进行功能性验证。

目前，传统的芯片老化监测的方法为将激励板与老化板连接，并进行数据交互，从而进行芯片的功能实验，指出哪些芯片在老化过程中损坏。

但是，现有技术在进行芯片的老化实验中，仅仅是实现IC的老化过程，剔除早期易损坏的芯片，它只是单纯的让芯片工作的一个过程，整个过程中并没有将老化中的一些参数(如电压、电流、温度等)信息保存起来，仅仅是指出在正常工作状态下，经过老化过程且还能正常工作的芯片。这不利于后期对芯片的分析，同时，无法实现远程监控，不能随时提取老化实验的工作状态以及进度，增大了工作人员的工作量。

有鉴于此，如何解决上述问题，是本领域技术人员关注的重点。

发明内容

本发明的目的在于提供一种激励板，以解决现有技术中在进行芯片老化实验时无法获取具体参数信息以及无法实现远程监控的问题。

本发明的另一目的在于提供一种芯片老化检测系统，以解决现有技术中在进行芯片老化实验时无法获取具体参数信息以及无法实现远程监控的问题。

为了实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明提供了一种激励板，所述激励板包括处理器、数据传输单元以及无线通信单元，所述处理器分别与所述数据传输单元、所述无线通信单元电连接，所述处理器用于通过所述数据传输单元向一老化板发送激励信号，所述数据传输单元用于接收所述老化板响应所述激励信号传输的反馈数据，并将所述反馈数据传输至所述处理器，所述处理器用于通过所述无线通信单元将所述反馈数据发送至一智能终端显示。

进一步地，所述激励板还包括存储单元，所述存储单元与所述处理器电连接，所述处理器还用于将所述反馈数据传输至所述存储单元进行存储。

进一步地，所述反馈数据包括电流信息、电压信息以及温度信息。

进一步地，所述激励板还包括报警装置，所述报警装置与所述处理器电连接，所述处理器预存储有阈值电流信息、阈值电压信息以及阈值温度信息，所述处理器还用于判断所述电流信息是否大于所述阈值电流信息或所述电压信息是否大于所述阈值电流信息或所述温度信息是否大于所述阈值温度信息，如果是，则控制所述报警装置报警。

进一步地，所述报警装置为声光报警器。

进一步地，所述激励板还包括显示器，所述显示器与所述处理器电连接，所述处理器还用于将所述反馈数据传输至所述显示器进行显示。

第二方面，发明还提供了一种芯片老化监测系统，所述芯片老化监测系统包括智能终端与激励板，所述激励板包括处理器、数据传输单元以及无线通信单元，所述处理器分别与所述数据传输单元、所述无线通信单元电连接，所述处理器用于通过所述数据传输单元向一老化板发送激励信号，所述数据传输单元用于接收所述老化板响应所述激励信号传输的反馈数据，并将所述反馈数据传输至所述处理器，所述处理器用于通过所述无线通信单元将所述反馈数据发送至所述智能终端显示。

第三方面，本发明实施例还提供了一种芯片老化监测系统，所述芯片老化监测系统包括一个或多个智能终端、云端服务器以及激励板，所述激励板与所述云端服务器通信连接，所述一个或多个智能终端与所述云端服务器通信连接，所述激励板用于将所述反馈数据发送至所述云端服务器进行存储，所述云端服务器用于将所述反馈数据发送至所述智能终端。

进一步地，所述云端服务器预存储有阈值反馈数据，所述云端服务器还用于判断所述反馈数据是否大于所述阈值反馈数据，如果是，则生成报警信息，并将所述报警信息发送至所述智能终端。

进一步地，所述报警信息包括报警短信。

相对现有技术，本发明具有以下有益效果：