[发明专利]产品寿命分析方法及终端设备

说明书

本发明提供了产品寿命分析方法及终端设备，该方法包括：设定产品寿命服从威布尔分布或I型极大值分布；通过加速因子变异系数模型，计算威布尔分布和I型极大值分布的加速因子的变异系数，并根据计算得出的两个加速因子的变异系数确定产品寿命所服从的分布模型；根据所确定的产品寿命分布模型，通过极大似然估计法对产品寿命进行分析。上述方法及终端设备能够科学、准确的对产品寿命进行分析评估。

技术领域

本发明属于寿命分析技术领域，尤其涉及产品寿命分析方法及终端设备。

背景技术

通常情况下，产品在出厂后，由于某种原因需要在仓库中贮存一段时间，由于贮存环境的作用，产品可靠性指标会有所下降。为了鉴定贮存期不同阶段产品质量的变化，需要在贮存过程中进行试验并分析试验数据。

一般可以通过加速寿命试验对产品进行寿命分析，而对产品进行加速寿命试验通常并不会直接得到产品的失效时间，因此通过上述试验数据进行产品寿命试验分析并不够科学、准确。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了产品寿命分析方法及终端设备，以解决现有技术中分析结果不够科学、准确的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种产品寿命分析方法，包括：

设定产品寿命服从威布尔分布或I型极大值分布；

通过加速因子变异系数模型，计算威布尔分布和I型极大值分布的加速因子的变异系数，并根据计算得出的两个加速因子的变异系数确定产品寿命所服从的分布模型；

根据所确定的产品寿命分布模型，通过极大似然估计法对产品寿命进行分析。

可选的，相邻应力间加速因子的变异系数之和：

高应力与常规应力间加速因子变异系数：

任意两个应力水平间加速因子的变异系数之和：

其中，k是加速试验的应力水平数，σ(K_i,i')和μ(K_i,i')分别是第i个和第i'个应力水平间加速因子的标准差和均值，CV(K_i,i')是相应的变异系数。

可选的，所述通过加速因子变异系数模型，计算威布尔分布的加速因子的变异系数，过程为：

设预设加速寿命试验条件对应k个应力S₁,S₂,…,S_k，设S₀S₁S₂…S_k，其中S₀为自然贮存对应的应力水平，在应力S_i下共有r_i个产品失效，失效时间分别为：τ_i为S_i下的截尾时间，i＝1,2,…,k；

记试验样本总数为n，失效样本总数为到达试验截尾时刻τ_k仍未失效的样本数为n-r，属于定时截尾型数据；

对于威布尔分布，高应力水平与常规应力水平之间的加速因子为：

其均值的估计为：

标准差的估计为：

其中：

故加速因子的变异系数为：