[发明专利]选择离子筛除设备以及方法

说明书

本发明涉及一种选择离子筛除设备，包括连接飞行时间质量分析器的脉冲电源；脉冲电源调节脉冲参数，向飞行时间质量分析器反射区的反射板输出反射脉冲；脉冲参数包括脉冲个数；反射板根据反射脉冲，对到达反射板上的待选择离子进行定量筛除。脉冲电源调节反射脉冲的脉冲个数，使得飞行时间质量分析器通过反射板能够实现对待选择离子筛除的定量控制，反射板可以通过定量次筛除将需筛除的离子筛除，需保留的离子反射至检测区进行检测，极大提高了检测区的检测器的使用寿命。飞行时间质量分析器根据改变了脉冲个数的反射脉冲，从而实现了对待选择离子的定量选择性筛除。

技术领域

本发明涉及飞行时间质量分析器的检测技术，特别是涉及一种选择离子筛除设备以及方法。

背景技术

飞行时间质量分析器(Time-of-Flight Mass Analyzer)，是根据不同质量数的离子在真空环境中飞行至检测器的时间不同来判定质荷比的，具有分析速度快、分辨率高、响应速度快、全谱扫描等特点。已被广泛应用于环境科学、食品安全、生理医学、资源勘探、材料科学等领域。然而，由于飞行时间质量分析器的全谱扫描特性，在实际应用中，当检测信号存在较强的背景或载气干扰离子，或当部分离子的信号强度超过仪器检测上限时，在很大程度上将干扰目标离子的检测和识别，不仅会减少检测器的寿命，而且会影响仪器检测的定性定量准确度和动态范围。

在实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：目前，传统技术一方面是通过离子传输区(如采用四极杆、离子阱、偏转装置等)进行离子控制的，往往离子筛除的质量范围较窄，且实现较为复杂；另一方面是通过飞行时间质量分析器进行选择离子筛除，同样存在选择离子的范围较窄的问题；即传统技术无法对离子进行定量选择性筛除。

发明内容

基于此，有必要针对传统技术无法对离子进行定量选择性筛除问题，提供一种选择离子筛除设备以及方法。

为了实现上述目的，本发明实施例提供了一种选择离子筛除设备，包括连接飞行时间质量分析器的脉冲电源；

脉冲电源调节脉冲参数，向飞行时间质量分析器反射区的反射板输出反射脉冲；脉冲参数包括脉冲个数；

反射板根据反射脉冲，对到达反射板上的待选择离子的数量进行定量筛除。

在其中一个实施例中，脉冲参数还包括脉冲延时和脉冲宽度。

在其中一个实施例中，时间飞行质量分析器的调制区、加速区、无场飞行区、反射区和检测区均设有栅网。

在其中一个实施例中，反射区包括第一级反射区；

或

反射区包括第一级反射区和第二级反射区。

在其中一个实施例中，检测区为双微通道板离子检测器。

在其中一个实施例中，推斥脉冲的单个脉冲周期、引出脉冲的单个脉冲周期以及反射脉冲的单个脉冲周期均相同；

推斥脉冲为施加在飞行时间质量分析器调制区推斥板上的脉冲；

引出脉冲为施加在飞行时间质量分析器加速区引出板上的脉冲。

在其中一个实施例中，推斥脉冲和引出脉冲的脉冲个数相同。

在其中一个实施例中，反射脉冲的脉冲个数小于或等于推斥脉冲的脉冲个数；

或

反射脉冲的脉冲个数小于或等于引出脉冲的脉冲个数。

在其中一个实施例中，反射板根据反射脉冲，对到达反射板上的待选择离子的进行定量筛除得到需筛除的离子和需保留的离子；

反射板对需筛除的离子进行预设筛除次数的筛除；预设筛除次数为反射脉冲的脉冲个数；