[发明专利]一种永磁电机转子位置的测量系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及永磁电机转子技术领域，尤其涉及一种永磁电机转子位置的测量系统及方法。

背景技术

随着电机行业的日益发展，无刷直流电机在很多领域如洗衣机都得到了广泛的应用，它具有调速性能好、体积小、寿命长、效率高等优点。但无霍尔传感器的无刷直流电机启动以及运转时的转子定位控制一直是行业内的疑难问题，严重制约着电机的适应范围。

现有技术中，戴森技术有限公司在无刷直流电机上的发明《确定永磁电机的转子位置的方法》(专利号CN104285369A)中使用硬件电路(主要由DC链滤波器、DC链分压器、逆变器、半桥驱动模块、电流传感器、反电动势传感器以及MCU组成)完成相电流的微分，并用硬件电压比较器(所述反电动势传感器中)将该信号与对应的分压电压信号做比较，得出反电动势过零点信号。该方案在成本上以及可靠性和集成度方面具有先天的劣势。

发明内容

本发明提供一种永磁电机转子位置的测量系统，解决的技术问题是，现有技术中使用硬件电路完成相电流的微分，并用硬件电压比较器将该信号与对应的分压电压信号做比较确定永磁电机转子位置的方式，硬件电路集成度低、可靠性低且成本高。

为解决以上技术问题，本发明提供一种永磁电机转子位置的测量系统，设有电源、DC滤波器、逆变器、电机、DC链分压器、半桥驱动模块、电流传感器、MCU，所述DC滤波器与所述逆变器顺序串联在所述电源与所述电机之间，所述DC链分压器连接在所述DC滤波器的滤波输出端与所述MCU的电压采样输入端之间，所述半桥驱动模块连接在所述MCU的控制输出端与所述逆变器的控制输入端之间，所述电流传感器连接在所述逆变器的信号输出端与所述MCU的电流采样输入端之间；

所述MCU模块用于设置ADC采样精度以及采样时间间隔；以及，按照设置的所述ADC采样精度以及所述采样时间间隔对所述MCU的电流采样输入端的电流和所述MCU的电压采样输入端的电压进行采样，得到每一采样时刻的采样电流值和采样电压值；以及，计算所述电流采样值的微分值，并将所述微分值与同一时刻的所述采样电压值作对比判断，确定反电动势过零点标志位。

具体地，所述MCU内部集成有ADC采样器、DSP处理器；所述按照设置的所述ADC采样精度以及所述采样时间间隔对所述MCU的电流采样输入端的电流和所述MCU的电压采样输入端的电压进行采样的过程由所述ADC采样器完成；所述计算所述电流采样值的微分值，并将所述微分值与同一时刻的所述采样电压值作对比判断，确定反电动势过零点标志位的过程由所述DSP处理器完成。

优选地，所述DC滤波器为电解电容，所述电解电容的正极端作为滤波输入端连接所述电源的正极输出端，所述电解电容的负极端为所述滤波输出端。

优选地，所述DC链分压器包括串联在所述电解电容两端的第一分压电阻和第二分压电阻，所述第一分压电阻与所述第二分压电阻的共同连接端连接所述MCU的电压采样输入端。

优选地，所述逆变器设有第一MOS管、第二MOS管、第三MOS管和第四MOS管，所述电流传感器设置为电阻；

所述第一MOS管的漏极和所述第二MOS管的漏极共同连接所述电解电容的正极端，所述第一MOS管的栅极、所述第二MOS管的栅极、所述第三MOS管的栅极、所述第四MOS管的栅极分别连接所述的半桥驱动模块不同的信号输出端，所述第一MOS管的源极和所述第三MOS管的漏极共同连接所述电机，所述第二MOS管的源极和所述第四MOS管的漏极共同连接所述电机，所述第三MOS管的源极和所述第四MOS管的源极共同连接所述电阻的一端和所述MCU的所述MCU的所述电流采样输入端，所述电阻的另一端连接所述电解电容的负极端。

本发明还提供一种永磁电机转子位置的测量方法，包括以下步骤：

S1.设置ADC采样精度以及采样时间间隔；

S2.按照设置的所述ADC采样精度以及所述采样时间间隔对MCU的电流采样输入端的电流和所述MCU的电压采样输入端的电压进行采样，得到每一采样时刻的采样电流值和采样电压值；

S3.计算所述电流采样值的微分值，并将所述微分值与同一时刻的所述采样电压值作对比判断，确定反电动势过零点标志位。

进一步地，在所述步骤S3前还包括步骤:

S23.对所述采样电流值和所述采样电压值进行数字滤波。

进一步地，在所述步骤S1前，还包括步骤：

S0.数据初始化。

进一步地，所述步骤S3具体包括：