[发明专利]综合孔径望远镜的共相调节装置有效
申请号: | 201711248974.1 | 申请日: | 2017-11-30 |
公开(公告)号: | CN107797264B | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | 姜爱民;董志超;薛建伟 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家天文台 |
主分类号: | G02B23/04 | 分类号: | G02B23/04;G02B23/12;G02B23/06;G01B9/06 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100012 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 综合 孔径 望远镜 共相 调节 装置 | ||
1.一种综合孔径望远镜的共相调节装置,包括多个子望远镜、多个快摆镜、光程补偿反射镜组件、折轴镜、倾斜探测望远镜、成像望远镜、半反半透分光镜、计控单元、倾斜探测CMOS相机和成像望远镜CMOS相机;其中,
各所述子望远镜用于收集外部光线;
所述快摆镜用于将子望远镜收集的外部光线反射至光程补偿反射镜组件,并校正光轴抖动;
所述光程补偿反射镜组件,包含可以沿着子望远镜径向移动的两面正交反射镜,用于调节光程差;
所述折轴镜用于接收从光程补偿反射镜组件出射的光线,并反射至成像望远镜的主光轴方向;
所述半反半透分光镜,用于将由折轴镜出射的光线反射一部分进入成像望远镜,另一部分进入倾斜探测望远镜;
所述倾斜探测CMOS相机和成像望远镜CMOS相机,分别设置于倾斜探测望远镜和成像望远镜后端,用于成像;
所述计控单元,电性连接于成像望远镜CMOS相机,用于采集数据并计算条纹对比度得到共相位置。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括机架,所述子望远镜、半反半透分光镜、倾斜探测望远镜以及成像望远镜均固定于所述机架上。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括压电平台和步进电机,所述光程补偿反射镜组件固定于所述压电平台上,所述压电平台和光程补偿反射镜组件整体固定于所述步进电机,所述步进电机和压电平台用于调节光程补偿反射镜组件以进行精细扫描。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述步进电机的扫描步长设置为小于外部光线的相干长度。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述外部光线的相干长度小于1微米。
6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括滤波轮,所述滤波轮设置于成像望远镜前端,实现子望远镜的两两干涉成像。
7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述子望远镜为无焦望远镜,用于收集无限远目标发出的光,各子望远镜出射的光线为平行光线。
8.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述计控单元还电性连接所述快摆镜和倾斜探测CMOS相机,用于采集倾斜探测望远镜上的共焦信息并进行实时的共焦调节,使成像望远镜中的两光束成像保持重合。
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