[发明专利]一种碳纤维火箭壳体表面涂层厚度的测量方法在审
申请号: | 201711010922.0 | 申请日: | 2017-10-26 |
公开(公告)号: | CN107782235A | 公开(公告)日: | 2018-03-09 |
发明(设计)人: | 王昊;孙贞信;李琨;祁贝贝;武威 | 申请(专利权)人: | 内蒙古航天红峡化工有限公司 |
主分类号: | G01B7/06 | 分类号: | G01B7/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 010010 内蒙*** | 国省代码: | 内蒙古;15 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 碳纤维 火箭 壳体 表面 涂层 厚度 测量方法 | ||
1.一种碳纤维火箭壳体表面涂层厚度的测量方法,其特征在于,针对碳纤维火箭壳体表面非磁性涂层采用电涡流原理测厚仪测量表面涂层厚度,测量方法包括,校准对比样块制作,基准值校准和测量值校准,实体测量。
2.根据权利要求1所述的一种碳纤维火箭壳体表面涂层厚度的测量方法,其特征在于,对应火箭壳体轴向厚度的不同,制作相应不同厚度的校准对比样块,针对每一火箭壳体的具体厚度的实体测量,均要进行基准值校准和测量值校准;测量方法为,
1)校准对比样块制作,根据工艺要求和火箭壳体前后封头、筒体厚度的不同,对应火箭壳体轴向确定需要进行测量的位置,针对火箭壳体轴向所确定的测量位置确定其对应的碳纤维火箭壳体的厚度,分别用碳纤维火箭壳体材料制作对应厚度的标准样块两块,用卡尺测量其厚度,并标记或记录;其中一块按工艺要求涂覆涂层,再用卡尺测量其厚度,减去其未涂敷涂层的厚度,得到涂层厚度L0,标记或记录;
2)基准值校准和测量值校准,针对火箭壳体不同厚度的实体测量前,均应进行基准值校准和测量值校准;选择对应测量火箭壳体厚度的校准对比样块,先选择未涂敷涂层的校准对比样块,先采用电涡流原理测厚仪进行测量,得到测量值L1,将该测量值定义L1为基准值,标记或记录;再选择涂敷涂层的校准对比样块,采用电涡流原理测厚仪进行测量,得到测量值L2,计算测量值校准系数K,K=L0/(L2-L1),标记或记录;
3)实体测量,针对对应确定厚度的火箭壳体实体测量,采用电涡流原理测厚仪进行测量,得到测量值L3,计算实体测量值L=K(L3-L1),L即是涂层的厚度,记录;进行下一火箭壳体厚度处涂层厚度的测量。
3.根据权利要求1所述的一种碳纤维火箭壳体表面涂层厚度的测量方法,其特征在于,对应火箭壳体轴向厚度的不同,制作与火箭壳体轴向相同、宽300mm的校准对比样块,针对每一火箭壳体的具体厚度的实体测量,均要进行基准值校准和测量值校准,测量方法为:
1)校准对比样块制作,根据工艺要求和火箭壳体前后封头、筒体厚度的不同,采用碳纤维火箭壳体材料制作与火箭壳体轴向相同、宽300mm的校准对比样块,其中一侧按工艺要求沿轴向涂覆150mm宽涂层,按工艺要求确定轴向测量点位置,在每一测量点位置分别用卡尺测量有涂层和未有涂层一边的厚度,有涂层一边的厚度减去有涂层一边的厚度即是涂层厚度L0,标记或记录;
2)基准值校准和测量值校准,针对火箭壳体不同厚度的实体测量前,均应进行基准值校准和测量值校准;按工艺要求的测量点,确定对应对比样块校准测量的位置,先选择未涂敷涂层的一侧,先采用电涡流原理测厚仪进行测量,得到测量值L1,将该测量值定义L1为基准值,标记或记录;再选择涂敷涂层的一侧,采用电涡流原理测厚仪进行测量,得到测量值L2,计算测量值校准系数K,K=L0/(L2-L1),标记或记录;
3)实体测量,针对对应确定厚度的火箭壳体实体测量,采用电涡流原理测厚仪进行测量,得到测量值L3,计算实体测量值L=K(L3-L1),L即是涂层的厚度,记录;进行下一火箭壳体厚度处涂层厚度的测量。
4.根据权利要求2或3所述的任一种碳纤维火箭壳体表面涂层厚度的测量方法,其特征在于,所采用的电涡流原理测厚仪MiniTest7400测厚仪,在进行基准值校准和测量值校准时,应用仪器的自动修正功能,将所测L1基准值修正设置为0,将所测L2修正设置为L0;在进行实体测量时所测L3值即是实体测量值L,也是涂层的厚度。
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