[发明专利]显示器的芯片测试装置以及具有其的显示器

说明书

本发明公开了一种显示器的芯片测试装置以及具有其的显示器，装置包括：M条测试走线，每条测试走线穿插设置于芯片上的N条待测信号线，其中，当测试走线正对处于芯片的第一膜层的待测信号线时，测试走线设置于芯片的第二膜层，当测试走线正对处于第二膜层的待测信号线时，测试走线设置于第一膜层，每条测试走线用于接收至少一条待测信号线上的信号；N个开关单元，N个开关单元的第一端分别与N条待测信号线对应相连，每个开关单元的第二端连接于M条测试走线中任一条，每个开关单元用于控制对应的待测信号线与对应的测试走线连通；控制单元，用于对N个开关单元进行控制，从而，能够快速有效的测量出所需的信号，提高信号测量的准确性及有效性。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种显示器的芯片测试装置以及一种具有该装置的显示器。

背景技术

显示器例如TFT LCD在信赖性测试及正常使用过程中经常出现线不良及其它不良。相关技术中，在进行不良解析时，通常需要测量驱动芯片或其他走线的输出信号。但是，相关技术中信号线的表面存有绝缘层并无测试点，从而无法测量所需的信号，极大影响产品的解析测试。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出一种显示器的芯片测试装置，能够快速有效不失真的测量出所需的信号，提高信号测量的准确性及有效性。

本发明的另一个目的在于提出一种显示器。

为达到上述目的，本发明一方面实施例提出的一种显示器的芯片测试装置，包括：M条测试走线，每条测试走线穿插设置于芯片上的N条待测信号线，其中，当所述测试走线正对处于所述芯片的第一膜层的待测信号线时，所述测试走线设置于所述芯片的第二膜层，当所述测试走线正对处于第二膜层的待测信号线时，所述测试走线设置于第一膜层，每条测试走线用于接收至少一条待测信号线上的信号，其中，M、N均为大于1的整数，且M小于等于N；N个开关单元，所述N个开关单元的第一端分别与N条待测信号线对应相连，每个开关单元的第二端连接于所述M条测试走线中任一条，每个开关单元用于控制对应的待测信号线与对应的测试走线连通；控制单元，所述控制单元用于对所述N个开关单元进行控制，并通过控制开关单元导通以将对应的待测信号线上的信号导入到相应的测试走线。

根据本发明实施例提出的显示器的芯片测试装置，M条测试走线中的每条测试走线穿插设置于芯片上的N条待测信号线，且当测试走线正对处于芯片的第一膜层的待测信号线时，测试走线设置于芯片的第二膜层，当测试走线正对处于第二膜层的待测信号线时，测试走线设置于第一膜层，每条测试走线用于接收至少一条待测信号线上的信号，N个开关单元的第一端分别与N条待测信号线对应相连，每个开关单元的第二端连接于M条测试走线中任一条，每个开关单元控制对应的待测信号线与对应的测试走线连通，控制单元对N个开关单元进行控制，并通过控制开关单元导通以将对应的待测信号线上的信号导入到相应的测试走线，从而，能够快速有效不失真的测量出所需的信号，提高信号测量的准确性及有效性，进而可判断芯片输出有无异常，提高不良解析效率。

另外，根据本发明上述实施例的显示器的芯片测试装置还可以具有如下附加的技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述第一膜层与所述第二膜层之间设置有绝缘层，其中，通过所述绝缘层上的过孔将处于所述第一膜层的测试走线与处于所述第二膜层的测试走线顺序连接。

根据本发明的一个实施例，所述控制单元通过P条选通信号线与所述N个开关单元的控制极相连，其中，每条选通信号线与Q个开关单元的控制极相连，其中，P为小于等于N的正整数，Q小于等于M。

根据本发明的一个实施例，所述选通信号线设置所述第一膜层，当所述测试走线正对处于所述选通信号线时，所述测试走线设置于第二膜层。