[发明专利]X射线检查装置及X射线检查方法有效
申请号: | 201710351695.1 | 申请日: | 2017-05-18 |
公开(公告)号: | CN107490586B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 杉田信治;梅本勇治;大西贵子 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 向勇;崔炳哲 |
地址: | 日本京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 检查 装置 方法 | ||
1.一种X射线检查装置,根据改变检查对象物、X射线源以及X射线照相机的相对位置而获取的多个拍摄数据,重建所述检查对象物的三维数据,其特征在于,包括:
工作台,其通过电机的驱动使检查对象物、X射线源以及X射线照相机中的至少一者移动;
位置检测单元,其定期获取所述电机的位置检测值,并将该位置检测值与时间相关联地存储;
拍摄时刻获取单元,其将从所述X射线照相机获取的拍摄标志与时间相关联地存储;
拍摄位置计算单元,其基于与所述拍摄标志相关联的时间确定所述X射线照相机的曝光期间,根据在所述曝光期间中的多个所述电机的位置检测值的平均值,求得在拍摄时刻的所述检查对象物、所述X射线源以及所述X射线照相机之间的位置关系;以及
重建单元,其使用由所述X射线照相机拍摄的拍摄数据以及在该拍摄数据的拍摄时刻的所述位置关系进行重建处理。
2.如权利要求1所述的X射线检查装置,其特征在于,
所述拍摄位置计算单元基于设计信息和由所述位置检测单元获取的所述电机的位置检测值求得所述位置关系。
3.如权利要求2所述的X射线检查装置,其特征在于,
所述拍摄位置计算单元基于预先获取的校准信息对基于所述设计信息和所述电机的位置检测值所求得的所述位置关系进行校正。
4.如权利要求1至3中任一项所述的X射线检查装置,其特征在于,所述检查对象物被固定;
所述工作台使所述X射线源和所述X射线照相机移动。
5.一种X射线检查装置中的X射线检查方法,根据改变检查对象物、X射线源以及X射线照相机的相对位置而获取的多个拍摄数据,重建所述检查对象物的三维数据,其特征在于,包含:
从通过电机的驱动使检查对象物、X射线源以及X射线照相机中的至少一者移动的工作台,定期获取所述电机的位置检测值,并将该位置检测值与时间相关联地存储的位置获取步骤;
一边驱动所述工作台以改变检查对象物、X射线源以及X射线照相机的相对位置,一边通过所述X射线照相机拍摄多个图像的拍摄步骤;
将从所述X射线照相机获取的拍摄标志与时间相关联地存储的拍摄时刻获取步骤;
基于与所述拍摄标志相关联的时间确定所述X射线照相机的曝光期间,根据在所述曝光期间中的多个所述电机的位置检测值的平均值,求得在拍摄时刻的所述检查对象物、所述X射线源以及所述X射线照相机之间的位置关系的拍摄位置计算步骤;以及
使用由所述X射线照相机拍摄的拍摄数据以及在该拍摄数据的拍摄时刻的所述位置关系进行重建处理的重建步骤。
6.用于在计算机上执行权利要求5所述的方法的各步骤的程序。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于欧姆龙株式会社,未经欧姆龙株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710351695.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:缺陷检查方法及其设备
- 下一篇:检查装置