[发明专利]用于集成电路本体偏置的方法和电路有效
申请号: | 201710337951.1 | 申请日: | 2017-05-15 |
公开(公告)号: | CN108075754B | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
发明(设计)人: | F·卡绍;V·于阿尔 | 申请(专利权)人: | 意法半导体(克洛尔2)公司;意法半导体有限公司 |
主分类号: | H03K17/284 | 分类号: | H03K17/284;H03K17/693 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;张昊 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 集成电路 本体 偏置 方法 电路 | ||
1.一种集成电路,包括:
多个电路域(102,104,106,108),每个电路域包括:
-多个晶体管器件,所述多个晶体管器件定位在p型阱和n型阱(P,N)之上,所述晶体管器件限定所述电路域的一个或多个数据路径,所述n型阱和所述p型阱延伸穿过所述多个电路域;
-电耦合到一起的多个p型阱、以及电耦合到一起的多个n型阱;
-监测电路(116),所述监测电路被适配成用于检测所述电路域的所述数据路径中的至少一个数据路径的松弛时间何时降至阈值水平以下并且用于基于所述检测在输出线上生成输出信号;以及
-偏置电路(110),所述偏置电路被适配成用于响应于所述监测电路的所述输出信号,修改所述电路域的所述n型和/或p型阱的偏置电压。
2.如权利要求1所述的集成电路,其中,在每个电路域内,所述偏置电路(110)耦合至所述监测电路(116)的所述输出线并且被适配成用于基于所述输出信号修改所述偏置电压。
3.如权利要求1所述的集成电路,其中,所述多个电路域的所述监测电路(116)的所述输出线耦合至控制电路(118),并且其中,所述控制电路(118)被适配成用于控制每个电路域的所述偏置电路(110)以便基于来自每个监测电路(116)的所述输出信号修改所述偏置电压。
4.如权利要求1所述的集成电路,其中,所述偏置电路(110)包括开关(402,403),所述开关具有耦合至相应电源电压轨的多个输入端以及经由阱接头(112,114)耦合至所述n型或p型阱的输出端(404,414),所述开关(402,403)由所述输出信号控制以便选择所述电源电压轨中的一个电源电压轨来耦合至所述阱接头(112,114)。
5.如权利要求1所述的集成电路,其中,所述监测电路(116)包括:
触发器(202),所述触发器具有耦合至所述至少一个数据路径的数据输入端并且接收时钟信号(CLK);以及
电路(204,206,208),所述电路被适配成用于如果在所述时钟信号的时钟边沿的第一时间段(d)内发生了所述至少一个数据路径中的数据信号的转变则断言所述输出信号。
6.一种方法,包括:
由集成电路的多个电路域(102,104,106,108)中的每个电路域中的监测电路(116)检测所述电路域中的至少一个数据路径的松弛时间何时降至阈值水平以下并且基于所述检测在输出线上生成输出信号,其中,每个电路域包括:
-定位在p型阱和n型阱(P,N)之上的多个晶体管器件,所述晶体管器件限定所述电路域的一个或多个数据路径,所述n型阱和所述p型阱延伸穿过所述多个电路域;以及
-电耦合到一起的多个p型阱、以及电耦合到一起的多个n型阱;以及
由每个电路域的偏置电路(110)响应于所述监测电路的所述输出信号,修改所述电路域的所述n型和/或p型阱的偏置电压。
7.一种方法,包括:
在分别包括多个监测电路和多个偏置电路的集成电路的多个电路域的每个电路域中,由所述电路域中的监测电路检测所述电路域中的至少一个数据路径的松弛时间何时降至阈值水平以下、并且基于所述检测在输出线上生成输出信号,其中每个电路域包括:
-定位在p型阱和n型阱之上的多个晶体管器件,所述晶体管器件限定所述电路域的一个或多个数据路径,所述n型阱和所述p型阱延伸穿过所述多个电路域;以及
-电耦合到一起的多个p型阱、以及电耦合到一起的多个n型阱;以及
在每个电路域中,由所述电路域的偏置电路响应于所述监测电路的所述输出信号,修改所述电路域的所述n型阱或p型阱中的至少一个的偏置电压。
8.如权利要求7所述的方法,其中每个电路域中的所述p型阱和所述n型阱包括电耦合到一起的多个p型阱以及电耦合到一起的多个n型阱。
9.如权利要求7所述的方法,其中在每个电路域内,所述偏置电路基于所述输出信号修改所述偏置电压。
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