[发明专利]一种永磁同步电机旋变零点校正方法以及系统在审

专利信息
申请号: 201710188730.2 申请日: 2017-03-27
公开(公告)号: CN106849777A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 蒋建军 申请(专利权)人: 苏州汇川联合动力系统有限公司
主分类号: H02P6/18 分类号: H02P6/18
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司44217 代理人: 陆军
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 永磁 同步电机 零点 校正 方法 以及 系统
【权利要求书】:

1.一种永磁同步电机旋变零点校正方法,其特征在于,包括:

S100、采样电机在自由旋转状态下的线电压的反电动势以及旋变信号,比较反电动势和旋变信号经过同一个位置时的时间差;

S200、根据电机频率以及所述时间差计算旋变的零点偏移量;

S300、基于所述零点偏移量对旋变反馈的位置信号进行补偿以校正旋变零点。

2.根据权利要求1所述的永磁同步电机旋变零点校正方法,其特征在于,步骤S100中,所述同一个位置为代表电机的零点和/或180°的位置,所述的比较反电动势和旋变信号经过同一个位置时的时间差包括:

确定反电动势的过零点和/或过180°的位置,并获取该位置对应的第一采样时刻;

获取旋变信号的零点和/或180°所对应的第二采样时刻;

计算第一采样时刻和第二采样时刻的时间差。

3.根据权利要求2所述的永磁同步电机旋变零点校正方法,其特征在于,步骤S100中,采样电机的线电压的反电动势后进行如下预处理:将采用得到的反电动势通过分压、滤波与稳压电路变成5V的正弦波信号,将该正弦波信号通过高精度比较器后输出方波信号,再将该方波信号通过光耦隔离同相输出至MCU的IO口,MCU检测到方波信号的上升沿和/下降沿,并将上升沿作为反电动势的过零点的位置,下降沿作为反电动势的过180°的位置。

4.根据权利要求1所述的永磁同步电机旋变零点校正方法,其特征在于,

步骤S100中,同时采样两路线电压的反电动势,针对每一路线电压,分别比较得到对应的所述时间差;

步骤S200中,根据电机频率以及第一路线电压所对应的时间差计算旋变的第一零点偏移量,根据电机频率以及第二路线电压所对应的时间差计算旋变的第二零点偏移量,并基于所述第一零点偏移量和第二零点偏移量通过数学处理得到最终的零点偏移量。

5.根据权利要求1所述的永磁同步电机旋变零点校正方法,其特征在于,步骤S200中,所述的根据电机频率以及所述时间差计算旋变的零点偏移量包括:基于公式θOFFSET=Δt*n*360°计算得到零点偏移量,式中,θOFFSET代表零点偏移量,Δt代表时间差,n代表电机频率。

6.一种永磁同步电机旋变零点校正系统,其特征在于,包括:

反电动势采样模块,用于在电机自由旋转时采样电机的线电压的反电动势;

时间差获取模块,用于在电机自由旋转时采样旋变信号,比较反电动势和旋变信号经过同一个位置时的时间差;

零点偏移量计算模块,用于根据电机频率以及所述时间差计算旋变的零点偏移量;

零点校正模块,用于基于所述零点偏移量对旋变反馈的位置信号进行补偿以校正旋变零点。

7.根据权利要求6所述的永磁同步电机旋变零点校正系统,其特征在于,所述同一个位置为代表电机的零点和/或180°的位置,所述时间差获取模块包括:

第一采样时刻确定单元,用于确定反电动势的过零点和/或过180°的位置,并获取该位置对应的第一采样时刻;

第二采样时刻确定单元,用于获取旋变信号的零点和/或180°所对应的第二采样时刻;

时间差计算单元,用于计算第一采样时刻和第二采样时刻的时间差。

8.根据权利要求7所述的永磁同步电机旋变零点校正系统,其特征在于,所述反电动势采样模块包括用于采样电机的线电压的反电动势的采样电路和用户采样得到的线电压的反电动势进行预处理的预处理电路,其中,所述预处理电路包括:

正弦波信号预处理单元,用于将采用得到的反电动势通过分压、滤波与稳压电路变成5V的正弦波信号;

方波信号产生单元,用于将该正弦波信号通过高精度比较器后输出方波信号;

隔离输出单元,用于将该方波信号通过光耦隔离同相输出至MCU的IO口;其中,MCU检测到方波信号的上升沿和/下降沿,并将上升沿作为反电动势的过零点的位置,下降沿作为反电动势的过180°的位置。

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