[发明专利]二次电源纹波测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及电源测试技术领域，具体涉及一种二次电源纹波测量装置。

背景技术

纹波测量是二次电源质量检测中很重要的一个参数，同时，它也是二次电源测量中的一个难点，对测量仪器和测量方法都有着较高的要求。由于直流稳压电源一般是由交流电源经整流、滤波、稳压等环节而形成的，这就不可避免地在直流电压中带有一些交流分量，将这种叠加在直流电压上的交流分量称之为纹波。

目前，对于二次电源的纹波测量方法主要有靠测法和同轴线纹波测量法，而测量仪器主要采用示波器。利用靠测法进行纹波测量时，必须要注意的是一定不能将错误信号引入示波器；同轴线纹波测量法是一种常用的纹波测量方法，但是，在操作时需要单独制作一套同轴线缆以及信号调节网路与示波器进行连接，并且需要对示波器探头做一定处理从而使其与同轴线缆以及信号调节网路相匹配，测量人员要有相当丰富的实测经验才能避免测量误差，如果测量不当，则每次测量相对误差较大，可信度大大降低。

发明内容

为了解决现有的二次电源纹波测量存在的测量准确度低的问题，本发明提供一种二次电源纹波测量装置。

本发明为解决技术问题所采用的技术方案如下：

本发明的一种二次电源纹波测量装置，包括：

二次电源测量接口，用于连接被测二次电源；

与二次电源测量接口相连的负载接口，用于连接负载；

与二次电源测量接口相连的阻抗匹配调节网络，用于过滤纹波中的杂波；

通过电缆与阻抗匹配调节网络相连的连接头，用于消除纹波中的杂波；

通过电缆与连接头相连的示波器，用于显示纹波；

包裹在电缆外部且与被测二次电源回线相连的屏蔽层，所述屏蔽层与连接头均接地；

所述负载接口、屏蔽层、二次电源测量接口、阻抗匹配调节网络均集成在小型电路板上。

进一步的，所述阻抗匹配调节网络由第一电阻和第一电容串联组成。

更进一步的，所述第一电阻采用50Ω/1w碳膜电阻。

更进一步的，所述第一电容采用1μF电容。

进一步的，所述连接头中内置信号调节网络，所述信号调节网络由第二电阻和第二电容并联组成。

更进一步的，所述第二电阻采用50Ω/1w碳膜电阻。

更进一步的，所述第二电容采用2700pF电容。

进一步的，所述负载接口和二次电源测量接口均采用凤凰端子。

进一步的，所述屏蔽层采用铜箔或铜网。

进一步的，所述电缆采用50Ω同轴电缆。

本发明的有益效果是：

本发明设计了阻抗匹配调节网络、信号调节网络以及专用的二次电源测量接口，提高了纹波测量的准确性与便利性；改进了接地设计，避免了测试过程中人为因素的干扰，大大简化了二次电源纹波的测试过程；本领域普通工程师也可以对二次电源纹波进行高效并且准确的测量。

附图说明

图1为本发明的一种二次电源纹波测量装置的结构示意图。

图2为阻抗匹配调节网络与信号调节网络连接关系示意图。

图中：1、小型电路板，2、负载接口，3、屏蔽层，4、二次电源测量接口，5、阻抗匹配调节网络，6、电缆，7、被测二次电源，8、连接头，9、示波器，10、负载，R1、第一电阻，R2、第二电阻，C1、第一电容，C2、第二电容。

具体实施方式

以下结合附图对本发明作进一步详细说明。

如图1所示，本发明的一种二次电源纹波测量装置，包括：小型电路板1、负载接口2、屏蔽层3、二次电源测量接口4、阻抗匹配调节网络5、电缆6、连接头8、示波器9。

负载接口2、屏蔽层3、二次电源测量接口4、阻抗匹配调节网络5均集成在小型电路板1上。被测二次电源7通过二次电源测量接口4与本发明的二次电源纹波测量装置相连。负载接口2与二次电源测量接口4相连。负载10通过负载接口2与本发明的二次电源纹波测量装置相连，在对被测二次电源7进行测量时，必须接入负载10才能测量，这是因为纹波的测量必须是在额定负载下测量才有意义。二次电源测量接口4与阻抗匹配调节网络5相连，阻抗匹配调节网络5通过电缆6与连接头8相连，连接头8通过电缆6与示波器9相连，屏蔽层3包裹在电缆6外部，同时，屏蔽层3与连接头8均接地，屏蔽层3还与被测二次电源7的回线相连。屏蔽层3的作用主要是：防止外部的信号进入本发明的一种二次电源纹波测量装置。