[发明专利]二次电源纹波测量装置在审

专利信息
申请号: 201710186871.0 申请日: 2017-03-27
公开(公告)号: CN107422277A 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 王小朋;张达 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01R31/42 分类号: G01R31/42
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙)22210 代理人: 于晓庆
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 二次 电源 测量 装置
【权利要求书】:

1.二次电源纹波测量装置,其特征在于,包括:

二次电源测量接口(4),用于连接被测二次电源(7);

与二次电源测量接口(4)相连的负载接口(2),用于连接负载(10);

与二次电源测量接口(4)相连的阻抗匹配调节网络(5),用于过滤纹波中的杂波;

通过电缆(6)与阻抗匹配调节网络(5)相连的连接头(8),用于消除纹波中的杂波;

通过电缆(6)与连接头(8)相连的示波器(9),用于显示纹波;

包裹在电缆(6)外部且与被测二次电源(7)回线相连的屏蔽层(3),所述屏蔽层(3)与连接头(8)均接地;

所述负载接口(2)、屏蔽层(3)、二次电源测量接口(4)、阻抗匹配调节网络(5)均集成在小型电路板(1)上。

2.根据权利要求1所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述阻抗匹配调节网络(5)由第一电阻(R1)和第一电容(C1)串联组成。

3.根据权利要求2所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述第一电阻(R1)采用50Ω/1w碳膜电阻。

4.根据权利要求2所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述第一电容(C1)采用1μF电容。

5.根据权利要求1所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述连接头(8)中内置信号调节网络,所述信号调节网络由第二电阻(R2)和第二电容(C2)并联组成。

6.根据权利要求5所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述第二电阻(R2)采用50Ω/1w碳膜电阻。

7.根据权利要求5所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述第二电容(C2)采用2700pF电容。

8.根据权利要求1所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述负载接口(2)和二次电源测量接口(4)均采用凤凰端子。

9.根据权利要求1所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述屏蔽层(3)采用铜箔或铜网。

10.根据权利要求1所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述电缆(6)采用50Ω同轴电缆。

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