[发明专利]二次电源纹波测量装置在审
申请号: | 201710186871.0 | 申请日: | 2017-03-27 |
公开(公告)号: | CN107422277A | 公开(公告)日: | 2017-12-01 |
发明(设计)人: | 王小朋;张达 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01R31/42 | 分类号: | G01R31/42 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙)22210 | 代理人: | 于晓庆 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二次 电源 测量 装置 | ||
1.二次电源纹波测量装置,其特征在于,包括:
二次电源测量接口(4),用于连接被测二次电源(7);
与二次电源测量接口(4)相连的负载接口(2),用于连接负载(10);
与二次电源测量接口(4)相连的阻抗匹配调节网络(5),用于过滤纹波中的杂波;
通过电缆(6)与阻抗匹配调节网络(5)相连的连接头(8),用于消除纹波中的杂波;
通过电缆(6)与连接头(8)相连的示波器(9),用于显示纹波;
包裹在电缆(6)外部且与被测二次电源(7)回线相连的屏蔽层(3),所述屏蔽层(3)与连接头(8)均接地;
所述负载接口(2)、屏蔽层(3)、二次电源测量接口(4)、阻抗匹配调节网络(5)均集成在小型电路板(1)上。
2.根据权利要求1所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述阻抗匹配调节网络(5)由第一电阻(R1)和第一电容(C1)串联组成。
3.根据权利要求2所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述第一电阻(R1)采用50Ω/1w碳膜电阻。
4.根据权利要求2所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述第一电容(C1)采用1μF电容。
5.根据权利要求1所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述连接头(8)中内置信号调节网络,所述信号调节网络由第二电阻(R2)和第二电容(C2)并联组成。
6.根据权利要求5所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述第二电阻(R2)采用50Ω/1w碳膜电阻。
7.根据权利要求5所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述第二电容(C2)采用2700pF电容。
8.根据权利要求1所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述负载接口(2)和二次电源测量接口(4)均采用凤凰端子。
9.根据权利要求1所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述屏蔽层(3)采用铜箔或铜网。
10.根据权利要求1所述的二次电源纹波测量装置,其特征在于,所述电缆(6)采用50Ω同轴电缆。
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