[发明专利]用于自动记录存储器冗余页错误地址的测试装置及方法

说明书

本发明公开了一种自动记录存储器冗余页错误地址的测试装置，包括地址加密单元、硬件校验单元、冗余页替换控制单元和存储器，其中，地址加密单元用于对测试操作地址进行加密处理；硬件校验单元对存储器的物理空间进行功能校验，生成校验错误信号；冗余页替换控制单元内含冗余页替换记录寄存器，将校验出错的存储器坏页物理地址标记为错误地址，存入冗余页替换记录寄存器；存储器访问到存储器的坏页时，冗余页替换控制单元自动识别已经保存的错误地址，并自动使用存储器的冗余页替换存储器的坏页，完成冗余页替换。本发明基于安全存储器，采用硬件自动记录冗余替换页地址的方法，硬件实现要比软件程序扫描省时，具有高效、适用范围广等特点。

技术领域

本发明涉及半导体存储器技术领域，尤其涉及自动记录存储器冗余页错误地址的测试装置及方法。

背景技术

目前，微电子技术发展方兴未艾，尤其是存储器测试技术被引入印刷电路板、通讯产品和片上系统等集成电路领域并得到广泛应用，而在存储器领域中，为了存储器内数据的安全性和可靠性，通常需要通过存储器测试，对存储器进行修复。现有的存储器测试方法，通常借助于自动测试设备(ATE， Automatic Test Equipment)来进行操作，通过自动测试设备上的软件程序，依次针对每个待测存储器，依次读取存储器中的页面地址进行检测，并根据检测页面地址数据判断读取数据正确与否，如果错误，则将出错地址写入一个冗余页替换记录寄存器中，该寄存器存储的地址为存储器的物理地址。这样，在读取完所有的存储器后，ATE就会依据寄存器中记录的错误地址，对校验到出现错误的存储器物理页面（以下定义为“坏页”）逐个进行修复。

但是，对于安全存储器来说，软件程序通过外部接口向存储器发送的校验地址，在存储器内部进行加密后，才能转换为实际的存储器物理地址，而当检测到校验地址出错后，还需要软件程序根据存储器内部实际的加密算法，对外部接口下发的操作地址进行加密处理，在这个操作过程中，需要先转换为实际存储器物理地址，然后再保存到冗余页替换记录寄存器中。上述检测方法首先需要向测试人员开放存储器内部实际的加密算法，这是一种不安全的做法；另一方面，实际安全存储器的加密算法，往往是包含一定随机性的，通过软件无法完全实现内部的加密算法。因此，现有的通过软件程序进行的存储器检测方法，既耗时，又不安全，容易出错，还占用存储器内部空间。

如图1所示，为现有的存储器冗余页替换的工作流程图。在该工作流程中，首先进行校验操作，rdn0、rdn1、rdn2、rdn3、rdn4是存储器的冗余页，从rdn0至rdn4的先后顺序依次排列，rdn（n）为rdn0、rdn1、rdn2、rdn3、rdn4，n与其判断到的rdn相对应。存储器校验操作开始后，执行存储器校验操作；判断是否校验到出现错误的坏页，如果没有发现错误，结束操作。如果校验到出现错误的坏页，首先，需要判断rdn0页是否被使用；若rdn0未被使用，软件程序把该出现错误的坏页地址写入相应的冗余页替换记录寄存器中，然后结束操作；若rdn0页已被使用，则需要判断rdn1页是否被使用；若rdn1未被使用，软件程序把该出现错误的坏页地址写入相应的冗余页替换记录寄存器中，然后结束操作；以此类推，将rdn2、rdn3和rdn4进行校验操作，最后，若rdn4已被使用，则结束操作。

从上述图1所述的存储器的校验操作过程来看，现有存储器的测试工作原理是：针对存储器出现错误的坏页，在软件程序检测过程中，发现错误的坏页地址，并将该坏页地址写入相应的寄存器中。但是，从上述图1所述可以看出，若该存储器测试方法应用于安全存储器，安全存储器中的软件程序无法转换出存储器内部经过加密后实际存储器物理地址数据，则无法实现替换冗余页的记录。因此，目前，使用软件程序进行测试操作的存储器，因为软件程序检测过程耗时长，减低了研发测试效率；而且，该存储器测试方法的安全漏洞和容易出错问题，是现有存储器测试的弊端。

发明内容

针对上述现有技术中存在的不足，本发明的目的是，基于安全存储器，采用硬件自动记录替换冗余页地址的装置和方法，具有高效、适用范围广等特点。

为了达到上述技术目的，本发明所采用的技术方案是：