[发明专利]短波红外焦平面非均匀性的校正方法及装置在审
申请号: | 201710108727.5 | 申请日: | 2017-02-27 |
公开(公告)号: | CN106910174A | 公开(公告)日: | 2017-06-30 |
发明(设计)人: | 周津同 | 申请(专利权)人: | 北京津同利华科技有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102200 北京市昌平区科技园区超前路35*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 短波 红外 平面 均匀 校正 方法 装置 | ||
1.一种短波红外焦平面非均匀性的校正方法,其特征在于,包括:
非均匀性噪声计算步骤:使用级联窗口滤波器计算原始红外图像的非均匀性噪声,输出各级的非均匀性噪声;
非均匀性噪声融合步骤:将各级窗口滤波器计算出的非均匀性噪声进行加权融合,生成融合后的非均匀性噪声;
非均匀性校正步骤:根据所述融合后的非均匀性噪声,对所述原始红外图像进行非均匀性校正。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述非均匀性噪声计算步骤中,使用3×3的级联窗口滤波器进行滤波,各级窗口滤波器采用下述公式计算非均匀性噪声:
其中,fn(x,y)和fn+1(x,y)分别表示第n级和第n+1级的级联窗口滤波器输出的非均匀性噪声,n的取值范围为0到2,(i,j)为滤波窗口中的相对像素坐标,(x,y)为滤波窗口中心对应的绝对像素坐标,m是滤波系数,gijn+1(x,y)表示在中心点的绝对像素坐标为(x,y)的窗口中,相对坐标为(i,j)的像素点的原始图像灰度值,*表示卷积运算,I(i,j)是空间滤波函数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京津同利华科技有限公司,未经北京津同利华科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710108727.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:测试机及其下料机构
- 下一篇:一种集成电路在线测试装置