[发明专利]自加热效应模型及测试方法

说明书

一种自加热效应模型及测试方法，所述自加热效应模型用于表征若干器件的热流网络，所述若干器件包括待测器件和位于待测器件周围的若干邻器件，包括：基准热阻和基准热容；热温反馈模型，用于通过各个邻器件的热度级根据待测器件到各邻器件的距离级、待测器件垂直热扩散级、待测器件功率级、以及待测器件和各个邻器件所处环境温度级获取待测器件热度级；修正热阻模型，用于根据待测器件热度级和基准热阻获取待测器件修正热阻；修正热容模型，用于根据待测器件热度级和基准热容获取待测器件修正热容。所述自加热效应模型能精确表征待测器件的热流网络。

技术领域

本发明涉及器件测试仿真领域，尤其涉及一种自加热效应模型及测试方法。

背景技术

器件的自加热效应指的是：器件工作时自身产生的热量足够大的时候导致器件内的温度高于环境温度，从而影响器件的性能。因此，需要对器件的自加热效应进行仿真。

自加热效应模型用来仿真器件自加热效应的热流网络。

然而，现有技术的自加热效应模型不能精确的仿真器件自加热效应的热流网络。

发明内容

本发明解决的问题是提供一种自加热效应模型及测试方法，以精确表征待测器件的热流网络。

为解决上述问题，本发明提供一种自加热效应模型，用于表征若干器件的热流网络，所述若干器件包括待测器件和位于待测器件周围的若干邻器件，其特征在于，包括：基准热阻和基准热容；热温反馈模型，用于通过各个邻器件的热度级根据待测器件到各邻器件的距离级、待测器件垂直热扩散级、待测器件功率级、以及待测器件和各个邻器件所处环境温度级获取待测器件热度级；修正热阻模型，用于根据待测器件热度级和基准热阻获取待测器件修正热阻；修正热容模型，用于根据待测器件热度级和基准热容获取待测器件修正热容。

可选的，所述热温反馈模型包括：温度级模型，用于获取各器件的温度级；热度级模型，用于获取各器件的热度级。

可选的，所述若干器件的温度级包括待测器件温度级和各个邻器件温度级；所述若干器件的热度级包括待测器件热度级和各个邻器件热度级。

可选的，所述待测器件热度级TML(S₀)通过热度级模型根据待测器件温度级WTL(S₀)和待测器件功率级EPD(S₀)获取，TML(S₀)＝(WTL(S₀)+EPD(S₀))*ETR；所述待测器件温度级WTL(S₀)通过温度级模型根据待测器件到各邻器件的距离级、各个邻器件热度级、待测器件垂直热扩散级VHD(S₀)以及待测器件和各个邻器件所处环境温度级ETS获取，其中，ETR为热度系数；W_i0表示待测器件到第i个邻器件的距离级；TML(S_i)表示第i个邻器件热度级；k等于各个邻器件的总数。

可选的，第i个邻器件热度级TML(S_i)通过热度级模型根据第i个邻器件温度级WTL(S_i)和第i个邻器件功率级EPD(S_i)获取，TML(S_i)＝(WTL(S_i)+EPD(S_i))*ETR；第i个邻器件温度级WTL(S_i)通过温度级模型根据第i个邻器件到待测器件的距离级W_i0、第i个邻器件到第i个邻器件周围各个邻器件的距离级、待测器件热度级TML(S₀)、第i个邻器件周围各个邻器件热度级、第i个邻器件垂直热扩散级VHD(S_i)以及待测器件和各个邻器件所处环境温度级ETS获取，其中，W_im表示第i个邻器件到第m个邻器件的距离级；TML(S_m)表示第m个邻器件热度级。