[发明专利]一种调试电路、调试装置、调制系统和一种电子设备

说明书

技术领域

本发明涉及电路设计技术领域，具体涉及一种调试电路、调试装置、调制系统和一种电子设备。

背景技术

目前，很多电子产品都趋向于小型化、防水等方向发展，会取消外露的USB接口、仅保留SD卡槽，虽然产品的电路板上会预留测试点，但是在产品组成整机后，这些测试点通常会包裹在整机内，不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作。

发明内容

本发明提供了一种调试电路、调试装置、调制系统和一种电子设备，以解决在电子产品外部仅预留SD卡槽的情况下，由于电路板上预留的测试点被包裹在整机内，不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作的问题。

根据本发明的一个方面，本发明提供了一种调试电路，包括控制芯片、链路切换单元和SD卡座；

所述控制芯片，用于监测所述SD卡座中是否插入SD卡；

所述链路切换单元，用于当所述控制芯片监测到所述SD卡座中未插入SD卡时，将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通，并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开；当所述控制芯片监测到所述SD卡座中插入了SD卡时，将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开，并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通。

根据本发明的另一个方面，本发明提供了一种调试装置，包括用于插入SD卡座的转接板，以及与所述转接板相连的USB连接器；

所述转接板上设置有DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚，当所述转接板插入SD卡座时，所述DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚分别连接所述SD卡座的DATA0引脚、DATA1引脚和DATA2引脚；

所述转接板与SD卡座接触的一端经过切角处理，使所述转接板插入SD卡座后，SD卡座的CD引脚的信号为高电平；

所述USB连接器的VUBS引脚接所述转接板的DATA2_1引脚，所述USB连接器的D+引脚接所述转接板的DATA0_1引脚，所述USB连接器的D-引脚接所述转接板的DATA1_1引脚。

根据本发明的又一个方面，本发明提供了一种电子设备，包括上述的调试电路。

根据本发明的再一个方面，本发明提供了一种调试系统，包括上述调试电路，以及上述调试装置；

当所述单刀双掷开关的可动端连接第一不动端时，所述调试系统进入功能调试模式/固件升级模式；

当所述单刀双掷开关的可动端连接第二不动端时，所述调试系统进入固件升级模式/功能调试模式。

本发明的有益效果是：本发明实施例将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用，当控制芯片检测到SD卡座中插入SD卡时，链路切换单元将控制芯片上用于与SD卡进行数据通信的引脚连接到SD卡座，此时控制芯片可以对SD卡进行正常的读写操作；当控制芯片检测到SD卡座中未插入SD卡时，链路切换单元将控制芯片上用于调试的引脚连接到SD卡座，此时可以通过SD卡座对产品整机进行调试，解决了在电子产品外部仅预留SD卡槽的情况下，由于电路板上预留的测试点被包裹在整机内，因而不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作的问题。

附图说明

图1是本发明一个实施例提供的一种调试电路的电路原理图；

图2是本发明一个实施例提供的一种调试装置的电路原理图；

图3是本发明一个实施例提供的一种电子设备的功能框图；

图4是本发明一个实施例提供的一种调试系统的功能框图。

具体实施方式

本发明的设计构思是：很多电子产品向于小型化、防水等方向发展，外部仅预留SD卡槽，电路板上预留的测试点都被包裹在整机内，不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作。针对这种情况，本发明将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用，当SD卡座插入SD卡时，将控制芯片上用于与SD卡进行数据通信的引脚连接到SD卡座，控制芯片可以对SD卡进行正常的读写操作；当SD卡座未插入SD卡时，将控制芯片上用于调试的引脚连接到SD卡座，此时将调试装置插入SD卡座就可以对产品整机进行调试，并且还可以通过调试装置上的开关选择不同的模式。

实施例一

图1是本发明一个实施例提供的一种调试电路的电路原理图，如图1所示，本实施例提供的调试电路包括控制芯片U1、链路切换单元和SD卡座J2。