[发明专利]光加工装置有效
申请号: | 201611186186.X | 申请日: | 2016-12-20 |
公开(公告)号: | CN106914703B | 公开(公告)日: | 2019-06-28 |
发明(设计)人: | 中岛智宏;中村凉真;杉浦康一 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | B23K26/362 | 分类号: | B23K26/362;B23K26/082;B23K26/064;B23K26/70 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 徐东升;赵蓉民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 加工对象物 加工区域 光加工装置 加工 偏离 加工控制部 位置检测部 加工位置 停止位置 间歇性输送 加工数据 间歇输送 检测结果 检测 光源 送入 照射 | ||
1.一种光加工装置,其中具有:光照射部,用于向加工区域照射该加工光,其中具备发射加工光的光源;输送部,用于向规定的输送方向,间歇性地输送加工对象物,将该加工对象物的被加工面上的被加工部分依次送入所述加工区域;以及,加工控制部,用于在所述加工对象物上的被加工部分停止在所述加工区域上的状态下,根据加工数据,实行加工控制,用所述光源照射的加工光加工该被加工部分,其特征在于,具有位置检测部,用于在所述加工对象物上的被加工部分停止在所述加工区域上时,检测设于该加工对象物上的检测用标记的位置,所述加工控制部根据所述位置检测部的检测结果,求出所述输送部输送的加工对象物的停止位置的偏离,并根据该偏离,对加工位置进行补偿,
所述位置检测部包含第一位置检测部和第二位置检测部,
所述第一位置检测部用于检测设于所述加工对象物上与所述输送方向相垂直的宽度方向上的一端端部一方的第一检测用标记的位置,
所述第二位置检测部,用于在所述加工对象物上的被加工部分停止在所述加工区域上时,检测设于所述加工对象物上的所述宽度方向上另一端端部一方的第二检测用标记的位置,
所述加工控制部根据所述第一位置检测部检测到的第一检测用标记的位置和所述第二位置检测部检测到的第二检测用标记的位置,来补偿所述输送部输送的加工对象物在所述宽度方向的两端端部之间的相对停止位置偏离造成的加工位置偏离。
2.根据权利要求1的光加工装置,其特征在于,所述加工控制部在实行所述加工控制时,使得所述加工对象物上两个在所述输送方向上相邻的被加工部分互相邻接或者部分重叠。
3.根据权利要求1所述的光加工装置,其特征在于,
所述位置检测部进一步具有第三位置检测部,该第三位置检测部用于在经过所述第一位置检测部检测之后受到所述输送部输送后,在所述加工对象物上的被加工部分停止在所述加工区域上时,检测与受到该第一位置检测部检测的同一个检测用标记的位置,
所述加工控制部补偿所述同一个检测用标记的计算检测位置与实际检测位置之间的偏离造成的加工位置偏离,所述计算检测位置是指,根据所述第一位置检测部的检测结果导出用所述第三位置检测部检测所述同一个检测用标记的位置得到的计算结果,所述实际检测位置是指,所述第三位置检测部实际检测到的该同一个检测用标记的位置。
4.根据权利要求3所述的光加工装置,其特征在于,所述加工控制部通过根据所述位置检测部的检测结果补偿所述加工数据,来补偿加工位置偏离。
5.根据权利要求4所述的光加工装置,其特征在于,所述加工控制部根据所述位置检测部的检测结果来补偿所述加工数据,使得受到所述加工光照射的被加工部分上的加工位置向所述输送方向移动。
6.根据权利要求5所述的光加工装置,其特征在于,所述加工控制部根据所述位置检测部的检测结果补偿所述加工数据,使得受到所述加工光照射的被加工部分上的加工位置向垂直于所述输送方向的方向移动。
7.根据权利要求6所述的光加工装置,其特征在于,所述加工控制部根据所述位置检测部的检测结果补偿所述加工数据,使得受到所述加工光照射的被加工部分上的加工位置向围绕平行于该被加工面的法线方向的转动轴转动的方向移动。
8.根据权利要求7所述的光加工装置,其特征在于,每当受到所述输送部间歇性地输送的所述加工对象物上的被加工部分停止在所述加工区域上时,所述位置检测部检测设于该加工对象物上的检测用标记的位置。
9.根据权利要求8所述的光加工装置,其特征在于,
所述光照射部具备光扫描部,该光扫描部用于在平行于所述加工对象物的被加工面的方向且垂直于所述输送方向的方向上扫描所述光源发射的加工光,
进一步具有移动部,用于使得所述光照射部加工光射出部在与该加工光在所述加工对象物的被加工面上的扫描方向平行的方向上移动。
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