[发明专利]一种JTAG链路自动实现通道切换的方法及系统

说明书

本发明公开了一种JTAG链路自动实现通道切换的方法及系统，具体包括：CPLD后置于JTAG链路；在CPLD与JTAG链路之间串联一缓冲器，所述缓冲器的使能控制端低电平有效，JTAG链路的TRST引脚通过一反相器与所述缓冲器的使能控制端相连，CPLD的TDO引脚作为整个链路的输出端通过所述缓冲器与所述第一连接器相连；设置第二连接器与CPLD连接，用于通过该连接器进行CPLD在线编程。采用本发明可以实现JTAG测试覆盖CPLD，同时又不会影响CPLD在线编程，方案简单易实现，而且切换过程不需要操作人员人为参与，便可以自动完成通道的切换。

技术领域

本发明涉及电子电路设计技术，具体涉及一种JTAG链路自动实现通道切换的方法及系统。

背景技术

JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行为组织))是一种边界扫描技术，是在20世纪80年代中期作为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的。这种技术最初是用来对芯片进行测试的，基本原理是在器件内部定义一个TAP(Test Access Port测试访问口)通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试，使用最多的就是用于板卡上芯片间互联测试和在线编程。

一般网络交换板卡上会有多个的芯片支持JTAG扫描，如CPU、CPLD、PHY等。电路设计时，会考虑把这些芯片的JTAG接口串接成一条链状结构，例如图1a所示，以方便做芯片间互联测试。但是，包含CPLD(Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件)的JTAG链路则有所区别，CPLD需要在线编程，而且必须专用的编程器来实现。如果将CPLD串接到JTAG链路中，在线编程时，链路中其他器件会干扰CPLD的数据，容易导致编程失败。所以一般设计时，通常把CPLD放到链路外面，单独设计一个JTAG插座用于烧录，例如图1b所示。

然而将CPLD置于链路外的缺点是，当芯片间互连测试时，无法测试CPLD，覆盖率大大降低。如果测试CPLD需要外接复杂的JTAG测试治具，增加了测试复杂度，降低了测试系统的稳定性。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的主要目的在于：利用JTAG接口中的TRST低有效特性控制缓冲器的通断，以实现CPLD与JTAG链路连接通道的自动切换。

为实现前述目的，本发明公开了一种JTAG链路自动实现通道切换的方法，应用于CPLD与JTAG链路串联的链路结构中，所述JTAG链路由第一连接器与若干芯片串联形成，具体包括：

CPLD后置于JTAG链路；

在CPLD与JTAG链路之间串联一缓冲器，所述缓冲器的使能控制端低电平有效，JTAG链路的TRST引脚通过一反相器与所述缓冲器的使能控制端相连，CPLD的TDO引脚作为整个链路的输出端通过所述缓冲器与所述第一连接器相连；

设置第二连接器与CPLD连接，用于通过该连接器进行CPLD在线编程。

优选地，所述缓冲器的型号为SN74LVTH16244A。

优选地，当TRST信号为高电平，所述缓冲器处于导通状态，CPLD与JTAG链路形成完整的JTAG链；

当TRST信号为低电平，所述缓冲器处于断开状态，CPLD与JTAG链路断开。

相应地，本发明还提供了一种JTAG链路自动实现通道切换的系统，包括JTAG链路模块、使能控制模块、CPLD编程模块，所述JTAG链路模块由第一连接器与若干芯片串联形成，所述系统具体包括：