[发明专利]一种信号源综合参数现场测量装置

说明书

本发明公开一种信号源综合参数现场测量装置，包括：射频前端模块、频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块、频谱纯度测量模块和显示控制模块；射频前端模块的输入端作为信号源综合参数现场测量装置的待测信号输入端，射频前端模块的输出端分别连接频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输入端，频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输出端均连接显示控制模块的输入端。本发明可实现对信号源各项技术指标的测量。

技术领域

本发明涉及无线电测量仪器。更具体地，涉及一种信号源综合参数现场测量装置。

背景技术

信号源是应用最广泛的无线电仪器，大量使用在无线电通信科研测试领域和部队的现役装备(雷达、导弹、飞机及导航卫星等)、试验场、靶场等诸多场合。它的性能指标对各应用系统都有重要的影响。但是，在通常情况下试验场和靶场等现场的测试环境条件均比较恶劣，且经常在室外进行，温湿度环境和电源的电压波动很大，零地电压有时可达到将近20VPP，这些因素很容易在测试时造成所用的仪器不可逆的严重的损坏，或者对测量数据产生很大的影响，导致测量结果的不准确和不可靠。目前国际上商品化的信号源综合参数测量装置主要有德国RS公司生产的FSMR测量接收机和美国Agilent公司生产的N5530S测量接收机。它们的工作原理均是在频谱分析仪的基础上通过软件来实现的，但对试验条件、环境条件均有较高要求，无法满足试验场、靶场等现场测试任务。

因此，需要提供一种信号源综合参数现场测量装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种信号源综合参数现场测量装置，解决在恶劣的环境下解决对信号源的现场测量，得到信号源输出的待测信号的频率、衰减、调制度、频谱纯度等各项技术指标。本发明需要达到的技术指标为：

(1)频率测量范围：10MHz～40GHz；

频率测量分辨力：1Hz；

允许误差极限：5×10-8；

(2)衰减测量范围：

(10～2000)MHz：(0～120)dB，允许误差极限：±0.02dB/10dB；

(2～26.5)GHz：(0～100)dB，允许误差极限：±0.02dB/10dB；

(26.5～40)GHz：(0～80)dB，允许误差极限：±0.05dB/10dB；

(3)调制度测量：

调制频率：20Hz～200kHz；

调幅度测量范围：0％～99％，允许误差极限：±1％；

调频频偏测量范围：0Hz～1MHz，允许误差极限：±1％；

调相相偏测量范围：0～400rad，允许误差极限：±3％；

(4)频谱纯度(谐波、杂波)范围：(-20～-80)dBc

允许误差极限：±1.0dB。

为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：

一种信号源综合参数现场测量装置，包括：射频前端模块、频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块、频谱纯度测量模块和显示控制模块；

射频前端模块的输入端作为信号源综合参数现场测量装置的待测信号输入端，射频前端模块的输出端分别连接频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输入端，频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输出端均连接显示控制模块的输入端。