[发明专利]测量装置

说明书

本申请基于2015年12月15日提交的日本专利申请No.2015-244669，并要求该日本专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

本发明涉及一种测量装置。更具体地，本发明涉及具有指针型显示部的测量装置，例如杆式刻度表(lever-type dial gauge)和千分表(dial gauge)。

背景技术

已知杆式刻度表(日本特许第3675587号和日本特许第4399186号)。杆式刻度表用于通过主要在标准规(master)或块规(block gauge)与被测体之间进行比较测量来检测是否存在加工误差或者误差是否在公差范围内。通过杆式刻度表进行的比较测量在产品的尺寸精度检测中具有极其重要的作用。

发明内容

即使使用了完全相同的杆式刻度表，检测结果也常常由于进行测量的测量者而产生不同。本发明人在之前对原因的调查结果中注意到测量者的无意识的姿势改变是因素之一。

为了进行比较测量，测量者在读取刻度时不应该改变姿势。如果测量者在测量标准规时与测量被测体时的姿势相比改变了姿势，则读取刻度的视线也改变，这种视线的差别直接引起测量误差。

测量者无意识地改变姿势的原因在于指针和刻度(分度线)有时难以被看到。

图1是示出杆式刻度表80的使用状态的图。典型的，杆式刻度表80主要以显示部82面向上方的方式进行使用。于是，在盖板83上反射了天花板上的照明光。

如果盖板83具有稍微弯曲的凸面，则反射被分散成多个弱反射点91。然而，在盖板83上沿不同方向反射光。

如果盖板83具有平坦表面，则光仅沿一个方向反射，但是会出现大的强反射点91。

虽然测量者在测量标准规或块规时决定姿势以便容易地看到指针位置(基准点)，但如果在测量工件(被测体)时指针位置被反射点91盖住，则测量者会改变姿势以读取由指针84指示的刻度(分度线)。

在另一情况中，当测量被测体的左右之间的高度差时，将千分表移动至测量点以进行测量。例如，将千分表安装于夹具等，并且将基准点调整到在被测体的左端的测量点处。然后，将千分表与夹具一起移动，并且在右端的测量点处读取与基准点的差。在此测量中，虽然在调整基准点时不会反射照明，但是在千分表移动到的位置处会反射照明。在此情况下，测量者无意识地改变此位置处的姿势以便读取刻度，这导致测量误差。

本来应该重新开始对标准规或块规的测量，但是重新测量是麻烦的。另外，并不是所有的使用者都能够正确地意识到不改变姿势、即固定视线的角度的重要性。

因此，本发明的目的是提供一种减少由于视差(parallax)引起的读取误差的测量装置。

根据本发明的实施方式的测量装置具有用于与被测体接触的表头，所述测量装置包括：

指针型显示部，其被构造成显示通过放大机构对所述表头的位移进行放大并将该位移转换成指针的转动量所获得的所述表头的位移；和

透明的盖板，所述盖板设置成覆盖所述指针型显示部，

其中，所述盖板在表面上具有防反射膜。

在本发明的实施方式中，优选的是，所述盖板还具有在所述防反射膜上的防污膜。

在本发明的实施方式中，优选的是，盖板具有平坦表面。

在本发明的实施方式中，优选的是，所述指针型显示部具有带有分度的刻度板，所述刻度板能够绕着所述指针的轴转动。

在本发明的实施方式中，优选的是，所述测量装置是杆式刻度表或千分表。

附图说明

图1是示出杆式刻度表的使用状态的图；

图2是千分表(测量装置)的主视图；

图3是千分表(测量装置)的分解图；

图4是示出了在盖板具有凸曲面并且不使用防反射膜的情况下的试验例的图；

图5是示出了在盖板具有平坦表面并且不使用防反射膜的情况下的试验例的图；以及

图6是示出了使用本实施方式的试验例的图。

具体实施方式

图示了本发明的实施方式并且参照图中各要素的附图标记进行说明。

(第一示例性实施方式)

在本实施方式中，例示了千分表10，但是本发明对于杆式刻度表80、指针显示型卡尺(pointer display type caliper)或测微计(micrometer)也是有效的。换言之，本发明对于任何指针显示型的小测量装置都是有效的。

图2是千分表10(测量装置)的主视图。

图3是千分表10(测量装置)的分解图。