[发明专利]测量装置在审

专利信息
申请号: 201611160308.8 申请日: 2016-12-15
公开(公告)号: CN106969682A 公开(公告)日: 2017-07-21
发明(设计)人: 古田诚 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 代理人: 刘新宇,张会华
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种测量装置,其具有用于与被测体接触的表头,所述测量装置包括:

指针型显示部,其被构造成显示通过放大机构对所述表头的位移进行放大并将该位移转换成指针的转动量所获得的所述表头的位移;和

透明的盖板,所述盖板设置成覆盖所述指针型显示部,

其中,所述盖板在表面上具有防反射膜。

2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述盖板还具有在所述防反射膜上的防污膜。

3.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述盖板的表面是平坦面。

4.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述指针型显示部具有带有分度的刻度板,所述刻度板能够绕着所述指针的轴转动。

5.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置是杆式刻度表或千分表。

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