[发明专利]EMMC烧录文件检验的方法及装置

说明书

技术领域

本发明实施例涉及信息技术领域，尤其涉及一种EMMC烧录文件检验的方法及装置。

背景技术

随着科技的进步，芯片包装正往小型化及高密度化发展，因此烧录文件的要求也越来越高。

为了提高智能方案的工厂烧录软件的效率，需要制作EMMC(Embedded Multi Media Card，嵌入式非易失性存储器系统)烧录bin文件，工厂生产时可以在上线前烧录此文件，而为了进一步提高工作效率，可以搭建了自动做bin的平台，工程师可以在网页系统上点击一键自动制作烧录bin文件。此制作烧录bin的过程使用的是linux的dd命令，把EMMC内容读出来再写入U盘。

但是，这个读取的过程是不带校验的，有可能存在制作出来的烧录bin文件存在数据损坏或者丢失的情况，不合格的烧录bin文件再从U盘烧录到芯片容易造成生产端的批量性不良。

发明内容

本发明实施例提供一种EMMC烧录文件检验的方法及装置，能够提高烧录文件的正确性。

第一方面，本发明实施例提供了一种EMMC烧录文件检验的方法，包括：

获取嵌入式系统的原始分区文件，计算各个原始所述分区文件的校验值，作为原始校验值；

所述嵌入式系统对应的烧录文件保存到烧录存储设备后获取保存的烧录文件的目标分区文件，计算各个所述目标分区文件的校验值，作为目标校验值；

通过对所述原始校验值与所述目标校验值的对比，检验所述烧录文件是否正确。

第二方面，本发明实施例还提供了一种EMMC烧录文件检验的装置，包括：

原始校验值获取模块，用于获取嵌入式系统的原始分区文件，计算各个原始所述分区文件的校验值，作为原始校验值；

目标校验值获取模块，用于所述嵌入式系统对应的烧录文件保存到烧录存储设备后获取保存的烧录文件的目标分区文件，计算各个所述目标分区文件的校验值，作为目标校验值；

烧录文件检验模块，用于通过对所述原始校验值与所述目标校验值的对比，检验所述烧录文件是否正确。

本发明实施例提供了一种EMMC烧录文件检验的方法，通过比较嵌入式系统的原始校验值与保存到烧录存储设备后目标分区文件的目标校验值，检验烧录文件是否正确，能够有效避免烧录文件存在数据损坏或者丢失的情况，以提高烧录文件的正确率。

附图说明

图1A是本发明实施例一中的一种EMMC烧录文件检验方法的流程图；

图1B是本发明实施例一中的一种EMMC烧录文件检验方法的流程图；

图2是本发明实施例二中的一种EMMC烧录文件检验方法的流程图；

图3是本发明实施例三中的一种EMMC烧录文件检验装置的结构图；

图4是本发明实施例四中的一种EMMC烧录文件检验装置的结构图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

实施例一

图1A为本发明实施例一提供的一种EMMC烧录文件检验方法的流程图，本实施例可适用于具备多分区的操作系统的情况，该方法可以由本发明实施例提供的EMMC烧录文件检验装置来执行，该装置可采用软件和/或硬件的方式实现，该装置可集成在任何提供EMMC烧录文件检验功能的设备中，如图1A所示，具体包括：

S110、获取嵌入式系统的原始分区文件，计算各个原始所述分区文件的校验值，作为原始校验值。

其中，嵌入式系统是一种完全嵌入受控器件内部，为特定应用而设计的专用计算机系统，用来控制或者监视机器、装置、工厂等大规模设备的系统。EMMC属于一种嵌入式系统，包含多个原始分区区域，每个原始分区区域都含有各自的原始分区文件，并且每个原始分区文件都对应不同的功能，如data分区用于存储数据。在获取嵌入式系统的原始分区文件后，计算各个原始分区文件的校验值，作为原始校验值。其中，校验值是用一种指定的算法对原始分区文件计算出的一个值。数据校验的方法有很多，包括奇偶校验法、BCC(Block Check Character，异或校验法)校验法或者CRC(Cyclic Redundancy Check，循环冗余校验)校验法等。而数据校验的目的是为保证原始分区文件的完整性，即保证数据的完整性。