[发明专利]晶圆承载膜在审
申请号: | 201610368650.0 | 申请日: | 2016-05-30 |
公开(公告)号: | CN107452663A | 公开(公告)日: | 2017-12-08 |
发明(设计)人: | 桂俊君;唐强;林保璋 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司11018 | 代理人: | 梁少微,王丽琴 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
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技术领域
本发明涉及半导体制作技术领域,特别涉及一种晶圆承载膜。
背景技术
目前,随着电子设备的广泛应用,半导体的制造工艺得到了飞速的发展,在半导体的制造流程中,涉及化学机械研磨工艺(CMP)。晶圆(wafer)的平坦化制作工艺都是依赖化学机械研磨机台来完成,现有技术中化学机械研磨机台包括三个研磨台和一个晶圆承载基座。将晶圆放置到晶圆承载基座的晶圆承载膜上,晶圆正面与晶圆承载膜接触,通过旋转研磨头的位置,将研磨头正对于晶圆承载基座上的晶圆,将晶圆吸附到研磨头上,然后选择研磨台进行晶圆的化学机械研磨。
现有技术中晶圆承载膜是由橡胶材料制成,但是使用寿命只有两天左右,所以每次保养时都需要更换晶圆承载膜。
发明内容
有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种晶圆承载膜,该晶圆承载膜使用寿命有效提高。
为达到上述目的,本发明的技术方案具体是这样实现的:
本发明公开了一种晶圆承载膜,位于晶圆承载基座上,用于承载晶圆,所述晶圆承载膜包括两层,与晶圆承载基座接触的第一层为聚乙烯醇,与晶圆接触的第二层为海绵体。
所述海绵体具有多孔结构。
所述海绵体为聚氨酯。
由上述的技术方案可见,本发明提供的一种晶圆承载膜,位于晶圆承载基 座上,用于承载晶圆,所述晶圆承载膜包括两层,其中,与晶圆承载基座接触的第一层为聚乙烯醇,具有强力粘接性,可以很好地与晶圆承载基座表面保持稳固和长期的粘贴性,有效地提高了晶圆承载膜的使用寿命。另外,与晶圆接触的第二层为海绵体,海绵体能够吸收液体并保持长时间的湿润状态,如此,晶圆与海绵体接触后可以和外界空气完全隔离,有效减少了颗粒和其他污染物的产生。
附图说明
图1为基座的膜上承载有晶圆的示意图。
图2为本发明实施例晶圆承载膜的切面示意图。
图3为本发明实施例晶圆承载膜的俯视图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案、及优点更加清楚明白,以下参照附图并举实施例,对本发明进一步详细说明。
在本文中,“示意性”表示“充当实例、例子或说明”,不应将在本文中被描述为“示意性”的任何图示、实施方式解释为一种更优选的或更具优点的技术方案。
为使图面简洁,各图中的只示意性地表示出了与本发明相关部分,而并不代表其作为产品的实际结构。另外,以使图面简洁便于理解,在有些图中具有相同结构或功能的部件,仅示意性地绘示了其中的一个,或仅标出了其中的一个。
在本文中,“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等仅用于表示相关部分之间的相对位置关系,而非限定这些相关部分的绝对位置。
在本文中,“第一”、“第二”等仅用于彼此的区分,而非表示重要程度及顺序、以及互为存在的前提等。
现有技术中晶圆承载膜由橡胶材料构成,与晶圆承载基座的粘贴性不 够,容易滑落,因而影响晶圆承载膜的使用寿命。因此,本发明为了提高晶圆承载膜的使用寿命,采用了由上下两层材料构成的晶圆承载膜,其中,与晶圆承载基座接触的第一层为聚乙烯醇(polyvinyl alcohol,PVA),与晶圆接触的第二层为海绵体。图1为基座的膜上承载有晶圆的示意图。晶圆承载膜2位于晶圆承载基座1上,晶圆承载膜2承载晶圆3,晶圆3正面与晶圆承载膜2接触。后续通过旋转研磨头的位置,将研磨头正对于晶圆承载基座上的晶圆,将晶圆吸附到研磨头上,然后选择研磨台进行晶圆的化学机械研磨。
图2为本发明实施例晶圆承载膜的切面示意图。该晶圆承载膜包括两层,其中,与晶圆承载基座接触的第一层101为聚乙烯醇,外观为白色粉末,是一种用途相当广泛的水溶性高分子聚合物,性能介于塑料和橡胶之间,它的用途可分为纤维和非纤维两大用途。聚乙烯醇具有强力粘接性,可以很好地与晶圆承载基座表面保持稳固和长期的粘贴性,有效地提高了晶圆承载膜的使用寿命。还有,聚乙烯醇材料还具有更高的皮膜柔韧性、平滑性、耐油性、耐溶剂性、保护胶体性、气体阻绝性、耐磨性以及经特殊处理具有的耐水性,因此使用寿命相比于橡胶要高很多。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造