[发明专利]一种基于频谱分析的摄像头模组倾斜探测方法

说明书

本发明涉及一种基于频谱分析的摄像头模组倾斜探测的方法，其包括如下步骤：产生一束平行相干光并垂直射向摄像头模组中的物镜；获取传感器芯片反射而产生的衍射频谱图像；计算衍射频谱图像的几何中心位置，以及衍射频谱图像的零级频谱的中心位置；由衍射频谱图像的零级频谱的中心位置与衍射频谱图像的几何中心位置是否重合来判断摄像头模组是否发生倾斜。本发明可提高摄像头模组倾斜探测的精确度。

技术领域

本发明涉及一种摄像头模组倾斜探测的方法，尤其是一种基于频谱分析的摄像头模组倾斜探测方法。

背景技术

近年来，人们对照相摄像功能的要求不断提高，反映在要求摄像头模组获取图像清晰度越来越高。而获取全局高清晰度的图像需要提高摄像头模组的像素，实现摄像头模组中图像传感器芯片与物镜的准确对焦，以及在摄像机模组生产装配过程中实现图像传感器芯片所在平面与物镜主平面平行。这就对摄像机模组生产线的要求有所提高，尤其是摄像头模组生产过程中图像传感器芯片所在平面与物镜主平面是否严格平行成为衡量摄像头模组性能好坏的关键。然而，摄像头模组由于镜头设计、制造缺陷以及摄像机装配等原因，易引起图像传感器芯片所处平面与物镜主平面发生一定角度的相对倾斜，这种倾斜会造成摄像头模组在实际工作中出现离焦现象，从而导致图像边缘过分模糊，图像品质下降。因此，如何探测摄像头模组中图像传感器芯片与物镜主平面是否产生倾斜成为仪器生产过程中的研究重点。

目前，摄像头模组的组装、调焦等工序仍是由人工完成，常用的方法是用人眼观察，找到聚焦点后，如果未察觉到图像传感器芯片相对物镜发生倾斜，则认为正确组装。但在人主观观察过程中会出现很多不确定因素，不能保证摄像头模组正确对焦以及未发生相对倾斜，并且人眼观察速度缓慢，这将耽误生产进度与降低产品的合格率。

公开号为CN2014180170U的专利公开了一种用于摄像头模组生产的自动聚焦机，由主控机、镜头夹、步进电机等装置构成，聚焦机的弹簧卡可以沿其直线轴承直线滑动以配合各种焦距的镜头，并利用光学系统对摄像机模组中图像传感器芯片进行成像，以成像的清晰度来使得各种不同型号的摄像头模组进行快速地聚焦。但是该发明没有考虑摄像头模组中图像传感器芯片所在平面与物镜主平面位置相对倾斜引起的装配误差。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种可提高摄像头模组倾斜探测精确度的基于频谱分析的摄像头模组倾斜探测方法。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案。

一种基于频谱分析的摄像头模组倾斜探测方法，其包括如下步骤：

S1、产生一束平行相干光并垂直射向摄像头模组中的物镜，所述平行相干光的中心轴线与物镜的光轴为共轴，平行相干光的中心轴线垂直于物镜的主平面；

S2、获取传感器芯片反射而产生的衍射频谱图像，该衍射频谱图像由平行相干光经摄像头模组的物镜会聚后，到达摄像头模组的传感器芯片，传感器芯片在接收到相干光束后在其表面产生反射，反射光束再次经过摄像头模组的物镜并在距离物镜一倍焦距处产生，所述衍射频谱图像为传感器芯片的衍射频谱图像；

S3、计算衍射频谱图像的几何中心位置，以及衍射频谱图像的零级频谱的中心位置；

S4、判断衍射频谱图像的零级频谱的中心位置与衍射频谱图像的几何中心位置是否重合，如果重合，则确定摄像头模组的物镜的主平面与传感器芯片为平行，如果不重合，则确定摄像头模组的物镜的主平面与传感器芯片为相对倾斜。

优选的，在步骤S4之后，有步骤S5：计算衍射频谱图像零级频谱中心位置相对于衍射频谱图像几何中心位置的偏移量和偏移方向。

优选的，在步骤S5之后，有步骤S6：根据偏移量和偏移方向计算摄像头模组的倾斜角度。

进一步，所述步骤S1，其具体为：

S11、选用相干光源产生一束相干光束；