[发明专利]一种检测LED光源变色失效的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及半导体发光二极管(LED)技术领域，具体涉及一种检测LED光源变色失效的方法及装置。

背景技术

LED(LightEmittingDiode)是一种固态半导体器件，可将电能转换为光能。具有耗电量小、聚光效果好、反应速度快、可控性强、能承受高冲击力、使用寿命长、环保等优点。LED正逐步替代传统光源，成为第四代光源。

对于LED光源，封装支架或基板对光源的可靠性影响较大。一般的，支架厂商会在支架或基板功能区设置镀层。镀层，能增加芯片与支架的连接强度，减少光损失，增加出光亮度，抗腐蚀等功能。当前，绝大多数的LED光源采用的支架或基板功能区的镀层都是银或银镍合金。

伴随着LED支架镀层的广泛应用，LED光源的变色失效问题也突显出来。镀层的硫化、氯化和溴化问题就首当其冲。所谓的硫化是支架或基板镀层里面的银与接触到的硫发生反应形成硫化银的过程，同理，氯化就是银反应成了氯化银，溴化就是银反应成了溴化银。含银的镀层是发生硫化、氯化或溴化的最主要的因素。光源功能区变色失效，反射率变低造成光通量下降，使LED光源的发光效率变低，同时出现色温漂移。功能区的银层变成银化合物后，金球与功能区的接触力下降，易死灯，降低了产品的可靠性和使用寿命，甚至直接出现死灯。

然而，LED光源发生变色失效的原因较多，在众多的变色失效中，目前还没法有效对LED光源失效展开准确的分析定位，无法判断LED光源变色失效是硫化、氯化或溴化变色失效，无法给出一个结果输出。

发明内容

本发明针对现有中无法快速分析出LED光源变色失效而提供了一种检测LED光源变色失效的方法及装置，能够快速实现对LED光源失效的定位分析。

本发明提供了一种检测LED光源变色失效的方法，包括如下步骤：

获取LED光源的变色区域；

检测所述变色区域是否存在变色斑点；

若所述变色区域存在变色斑点，则提取变色区域的变色色斑；

采用X射线能谱仪对变色色斑的斑点元素进行分析；

基于X射线能谱仪输出斑点元素中的结果成分。

所述获取LED光源的变色区域包括：

获取光源支架或者基板功能区的变色区域。

所述获取LED光源的变色区域之前还包括：

去除LED光源的封装胶。

所述检测所述变色区域是否存在变色斑点包括：

基于高倍显微镜获得放大后的所述变色区域的图像；

基于所述放大的所述变色区域的图像判断所述变色区域是否存在变色斑点。

所述高倍显微镜的显示倍数为50倍以上。

本发明还提供了一种检测LED光源变色失效的装置，所述装置包括：

获取模块，用于获取LED光源的变色区域；

检测模块，用于检测所述变色区域是否存在变色斑点；

色斑提取模块，用于在检测所述变色区域存在变色斑点时，提取变色区域的变色色斑；

色斑分析模块，用于采用X射线能谱仪对变色色斑的斑点元素进行分析；

分析结果模块，用于基于X射线能谱仪输出斑点元素中的结果成分。

所述获取模块用于获取光源支架或者基板功能区的变色区域。

所述装置还包括：

去封装胶模块，用于去除LED光源的封装胶。

所述检测模块还包括：

高倍显示单元，用于基于高倍显微镜获得放大后的所述变色区域的图像；

检测单元，用于基于所述放大的所述变色区域的图像判断所述变色区域是否存在变色斑点。

所述高倍显示单元中的高倍显示镜的显示倍数为50倍以上。

通过实施本发明，能够快速检测LED灯光源是否发生了变色失效，首先通过检测变色区域是否存在变色色斑，再通过对变色色斑的元素进行分析，得出分析结果，达到快速解析LED光源变色失效原因和结果的目的。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本发明实施例中的检测LED光源变色失效的方法流程图；

图2是本发明实施例中的检测LED光源变色失效的装置结构示意图；

图3是本发明实施例中的检测模块的结构示意图。

具体实施方式