[发明专利]一种地层元素测井仪器解谱分析确定产额的方法

权利要求书

1.一种地层元素测井仪器解谱分析确定产额的方法，其特征在于：包括以下步骤：

1)计算标准俘获谱归一化响应矩阵A

响应矩阵A是用加权最小二乘法解谱时的设计矩阵；

设a_ij是响应矩阵A的(i，j)元，即A的第i行第j列的元素；

则

a_ij＝N_ij   i＝1，2，...256

其中N_ij是标准谱归一化后第j种元素的的第i道计数；

2)计算实测地层俘获谱计数c_i

设在实际测量中得到的256道γ能谱的第i道计数为c_i；

则

c_i＝N_iM   i＝1，2，...256

其中N_iM是实测地层谱归一化后的第i道计数；总道数i＝256；

3)计算对角加权矩阵W

设对角加权阵为W，w_ii是W的(i，i)元，令权系数w_i＝w_ii，则

wii=wi=1ci2]]>

则

W=w110000w220000...0000wnn]]>

4)计算加权最小二乘法解谱得产额y_j

地层测量谱的第i道的计数可以表示为，地层中所有元素在第i道内产生的γ射线即标准谱的线性叠加；

ci=Σj=1maijyj+ϵii=1,2,3......m,]]>

即叠加的系数为该地层中元素的产额；

其中a_ij是由元素的标准谱得到的m×m’的响应矩阵A的(i，j)元，y_j表示第j种元素的百分含量，即产额，ε_i表示误差，m为元素总数，m’为总道数；

采用加权最小二乘法求解，得：

y＝[A^TWA]^-1[A^TWC]

其中C＝(c₁，c₂，....c_n)^T，y＝(y₁，y₂，...y_m)；

5)利用残差平方和的平均数Δ²判定拟合效果；

设残差平方和的平均数为

Δ2=1nΣi=1n(ci-Σj=1maijyj)2]]>

若确定的精度Δ²＜ε，则满足要求，否则返回步骤1)重新进行解谱。