[实用新型]二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡有效
申请号: | 201320343853.6 | 申请日: | 2013-06-17 |
公开(公告)号: | CN203325004U | 公开(公告)日: | 2013-12-04 |
发明(设计)人: | 侯鸿川;林晖;任福云;孟凡辉;何兰 | 申请(专利权)人: | 公安部第一研究所;北京中盾安全技术开发公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
代理公司: | 北京中海智圣知识产权代理有限公司 11282 | 代理人: | 曾永珠 |
地址: | 100048*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二代 身份证 指纹 采集 识别 设备 标准 测试 | ||
1.二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡,其特征在于,所述标准测试卡的整体外形是边长为19x13.5mm的长方形板,包括正面与反面,所述边长为19x13.5mm的长方形板内又设置了一个边长为17.93x12.75mm的长方形,所述边长为19x13.5mm的长方形板的中心为一个边长为10mm的小正方形,所述边长为10mm的小正方形再平均分成四个边长为5mm的小正方形。
2.根据权利要求1所述的二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡,其特征在于,所述二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡的材料采用单晶半导体材料。
3.根据权利要求1所述的二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡,其特征在于,所述单晶半导体材料为单晶锗或单晶硅之一。
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