[实用新型]光面晶体硅-陷光膜复合太阳能电池有效
申请号: | 201320211259.1 | 申请日: | 2013-04-24 |
公开(公告)号: | CN203288603U | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 许志龙;皮钧;刘菊东;黄种明;杨小璠;任永臻;侯达盘;刘伟钦;林忠华 | 申请(专利权)人: | 集美大学 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/0352 |
代理公司: | 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 | 代理人: | 朱凌 |
地址: | 361021 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光面 晶体 陷光膜 复合 太阳能电池 | ||
技术领域
本实用新型涉及太阳能电池制造技术领域,特别是一种光面晶体硅-陷光膜复合太阳能电池。
背景技术
太阳光直接照射在光面晶体硅的表面有30%会发生反射而损失,为了实现晶体硅电池对太阳光的高效吸收,目前主要采用制绒技术获取绒面晶体硅,该绒面晶体硅表面为不规则的陷光结构,可增加太阳光的折射吸收次数,以减少其表面的反射损失(目前单晶硅的反射损失大于12%,多晶硅的反射损失大于20%);然而制绒工艺会导致晶体硅高温扩散不一致、晶格位错缺陷、接触电阻增大等不利因素的凸显,从而限制了晶体硅电池光电转换效率的进一步提高。
除了采用制绒工艺减少晶体硅电池反射损失外,还可在晶体硅表面蒸镀减反射膜(厚0.01~0.3μm),该减反射膜通过光波的干涉原理,当膜层的光学厚度是某一波长的四分之一,相邻两束光的光程差恰好为π,即振动方向相反,叠加的结果使光学表面对该波长的反射光减少,使晶体硅电池的反射损失减少。由于太阳光的波长范围较大,采用单层减发膜很难达到理想的减反效果,为实现较宽光谱的减反效果,只能采用多层减反射膜,为了保证其厚度的均匀性,会导致其加工难度大,使得加工成本高。
实用新型内容
针对以上缺陷和不足,本实用新型提出了一种晶体硅对太阳光吸收率高、易于制造、成本较低的光面晶体硅-陷光膜复合太阳能电池。
本实用新型通过如下方案来实现:
本实用新型是一种光面晶体硅-陷光膜复合太阳能电池,它包括光面晶体硅、氧化膜钝化层、高透陷光膜;所述的高透陷光膜、氧化膜钝化层、光面晶体硅由上至下层叠,其折射率由上至下梯度增大;所述的氧化膜钝化层溅射于光面晶体硅的朝阳面上,所述的高透陷光膜复合在氧化膜钝化层上。
所述的高透陷光膜为添加微量元素的高透PVC或PU材料,高透陷光膜的膜表面微结构为球形、圆锥或金字塔形,陷光膜厚为100-200μm。
所述高透陷光膜的金字塔微结构谷底夹角α为36°-90°。
采用上述方案后,本实用新型具有以下优点:
1)由于本实用新型增加了一层陷光膜,使得晶体硅对太阳光高效吸收(反射损失降低到8%以下);同时采用光面晶体硅不会产生晶体硅高温扩散不一致、晶格位错、接触电阻增大等缺陷。
2)本实用新型使用的陷光膜微结构尺寸约为50微米,所用材料为添加微量元素的高透PVC或PU材料,制造采用模具热压印工艺,所以制造简单、成本低。
综上所述,通过选取合适的高透陷光膜、氧化膜钝化层材质,优化高透陷光膜-氧化膜钝化层-光面晶体硅的折射率、膜表面陷光微结构,本实用新型可提高晶体硅对太阳光高效吸收,并获得高效光电转换效率,且制造成本低。
附图说明
图1是本实用新型的截面剖视图;
图2是本实用新型微观的截面剖视图;
图3A、图3B、图3C是本实用新型的陷光膜表面金字塔谷底夹角α为120°、60°、36°的微结构光路图;
图4A、图4B、图4C是本实用新型的陷光膜及原始模具表面三面锥体、四面锥体、六面锥体的微结构示意图。
具体实施方式
如图1、图2所示,本实用新型是一种光面晶体硅-陷光膜复合太阳能电池,它包括光面晶体硅3、氧化膜钝化层2、高透陷光膜1。
所述的高透陷光膜1、氧化膜钝化层2、光面晶体硅3由上至下层叠,其折射率由上至下梯度增大,即:高透陷光膜1的折射率最小,氧化膜钝化层2的折射率最次之,光面晶体硅3的折射率最大。
所述的氧化膜钝化层2溅射于光面晶体硅3的朝阳面上,所述的高透陷光膜1复合在氧化膜钝化层2上。
所述的高透陷光膜1为高透PVC或PU材料,通过添加微量元素可调节其折射率,使陷光效果最佳。高透陷光膜1的膜表面微结构为球形、圆锥、金字塔形等多种形状,高透陷光膜1厚为100-200μm。其中,高透陷光膜1表面形貌为规则金字塔微结构时,金字塔底边尺寸为50-100μm。
本实用新型的工作原理:
由于硅的晶体结构在表面处中断而形成悬挂键,导致表面的能带弯曲,在禁带中产生达姆能级,使载流子通过禁带表面能级时,在硅表面产生复合使有效少子寿命降低,从而导致晶体硅电池的效率降低,而所述的氧化膜钝化层2溅射在光面晶体硅3上能够改善晶体硅的光生伏特效应。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的