[发明专利]提高再聚焦分辨率的负折射光子晶体双平板透镜系统无效
| 申请号： | 201310544501.1 | 申请日： | 2013-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN103630999A | 公开（公告）日： | 2014-03-12 |
| 发明（设计）人： | 朱娜;廉颖霏;江晓明 | 申请（专利权）人： | 江苏大学 |
| 主分类号： | G02B13/00 | 分类号： | G02B13/00;G02B3/02 |
| 代理公司： | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人： | 汪旭东 |
| 地址： | 212013 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 提高 聚焦 分辨率 折射 光子 晶体 平板 透镜 系统 | ||
1.提高再聚焦分辨率的负折射光子晶体双平板透镜系统，其特征在于，包括光源、探测器、上板和下板，其中：
上板和下板相互平行，两板均为二维光子晶体，通过在GaAs介质基底刻蚀三角晶格排列的圆柱型空气孔制成；
光源位于下板下方，其与下板下表面之间的纵向距离为λ，横向位于两板的中间，光源的中心频率为0.3068a/λ；探测器与光源组合在一起，待探测目标位于上板上方，并处在光源的正上方；
上述a为二维光子晶体的晶格常数，λ等于1/0.3068um。
2.根据权利要求1所述的提高再聚焦分辨率的负折射光子晶体双平板透镜系统，其特征在于：GaAs介质基底的相对介电常数ε=12.96，空气孔的半径是0.4a，空气孔在GaAs介质基底上的排列为纵向7行、横向取30列。
3.根据权利要求2所述的提高再聚焦分辨率的负折射光子晶体双平板透镜系统，其特征在于：上板、下板的纵向厚度均为2λ。
4.根据权利要求3所述的提高再聚焦分辨率的负折射光子晶体双平板透镜系统，其特征在于：待探测目标位与下板上表面之间的纵向距离为3.91λ。
5.根据权利要求4所述的提高再聚焦分辨率的负折射光子晶体双平板透镜系统，其特征在于：上板下表面与下板下表面之间的纵向距离为10～12um。
6.根据权利要求5所述的提高再聚焦分辨率的负折射光子晶体双平板透镜系统，其特征在于：上板下表面与下板下表面之间的纵向距离为11um。
7.根据权利要求1～5任一所述的提高再聚焦分辨率的负折射光子晶体双平板透镜系统，其特征在于：上板和/或下板存在点缺陷。
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